並列アクセスおよび直列アクセスを伴う、システムオンチップをテストするための方法ならびに装置

专利摘要:
本発明は、チップレベルのＪＴＡＧテストに新しいハードウェア記述言語を提供する。新しいＢＳＤＬ（ＮＳＤＬ）と呼ばれる、この新しいハードウェア記述言語は、システムオンチップのテストリソースが記述されることを可能にし、それによって、システムオンチップのテストを円滑にするように、システムオンチップが記述されることを可能にする。本発明は、システムオンチップを記述するためのボトムアップ手法を提供する。本発明は、システムオンチップの構成要素のそれぞれのアルゴリズム記述をサポートし、かつシステムオンチップの構成要素同士の間の相互接続のアルゴリズム記述をサポートし、それによって、システムオンチップ全体のアルゴリズム記述またはシステムオンチップの一部のアルゴリズム記述の生成を可能にする。
公开号:JP2011505643A
申请号:JP2010536913
申请日:2008-11-25
公开日:2011-02-24
发明作者:トルーレン，ブラッドフォード，ジーン ヴァン；ゴヤール，スレシュ；チャクラボーティ，タパン，ジョーティ；チャン，チェン−ファン；ポートラン，ミシェル
申请人:アルカテル−ルーセント ユーエスエー インコーポレーテッド；
IPC主号:G06F11-22

专利说明:

[0001] 本発明は、プリント回路基板の分野に関し、より詳細には、プリント回路基板のテストに関する。]
背景技術

[0002] ジョイント・テスト・アクション・グループ（Ｊｏｉｎｔ Ｔｅｓｔ Ａｃｔｉｏｎ Ｇｒｏｕｐ）（ＪＴＡＧ）は、バウンダリスキャンを使用してプリント回路基板をテストするためのテストアクセスポートに関するＩＥＥＥ１１４９標準を指す。ＪＴＡＧは、プリント回路基板をテストするために、自動テスト生成（ＡＴＧ）ツールによって使用される。バウンダリスキャン記述言語（Ｂｏｕｎｄａｒｙ Ｓｃａｎ Ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ Ｌａｎｇｕａｇｅ）（ＢＳＤＬ）は、基板レベルのＪＴＡＧに関するＩＥＥＥ１１４９．１標準の一部として開発されており、さらに、階層化スキャン記述言語（Ｈｉｅｒａｒｃｈｉｃａｌ Ｓｃａｎ Ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ Ｌａｎｇｕａｇｅ）（ＨＳＤＬ）は、ＢＳＤＬの拡張として開発されている。ＢＳＤＬ／ＨＳＤＬは、基板上または基板の構成要素上で利用可能なリソースを記述する（この場合、ＨＳＤＬは、その他の構成要素から構成される構成要素を記述する）。ＢＳＤＬ／ＨＳＤＬは基板レベルのＪＴＡＧに関して効率的であるものの、基板レベルのＪＴＡＧからチップレベルのＪＴＡＧへの推移は、ＢＳＤＬ／ＨＳＤＬの限界を強調する。]
[0003] 命令ＪＴＡＧ（ＩＪＴＡＧ）は、基板レベルのＪＴＡＧからチップレベルのＪＴＡＧへの移行に関連する既存のＪＴＡＧ限界を克服するために標準化されている（Ｐ１６８７標準として示される）が、ＩＪＴＡＧに関連する進行中の作業は、ＢＳＤＬ／ＨＳＤＬが、チップレベルのＪＴＡＧテストに関する記述要件を満たすことが可能でないことを明らかにした。ＢＳＤＬ／ＨＳＤＬは、バウンダリスキャンレジスタを構成しているセルの順序付けられたリストに依存するが、かかる静的記述は、ＩＪＴＡＧにおいて求められる複雑な動的スキャンチェーンを記述するのに適していない。さらに、ＢＳＤＬ／ＨＳＤＬは、システムのそれぞれの構成要素に関して必要とされるテスト手順を記述するための任意のスペースを提供することができない。]
課題を解決するための手段

[0004] 本発明は、チップレベルのＪＴＡＧテストに新しいハードウェア記述言語を提供する。新しいＢＳＤＬ（ＮＳＤＬ）と呼ばれる、この新しいハードウェア記述言語は、システムオンチップのテストリソースが記述されることを可能にし、それによって、システムオンチップのテストを円滑にするように、システムオンチップが記述されることを可能にする。本発明は、システムオンチップを記述するためのボトムアップ手法を提供する。本発明は、システムオンチップの構成要素のそれぞれのアルゴリズム記述をサポートし、かつシステムオンチップの構成要素同士の間の相互接続のアルゴリズム記述をサポートし、それによって、システムオンチップ全体のアルゴリズム記述またはシステムオンチップの一部のアルゴリズム記述の生成を可能にする。]
[0005] 一実施形態では、複数の相互接続によって相互接続された複数の構成要素を有するシステムオンチップをテストするための方法が提供される。１つのかかる実施形態では、この方法は、システムオンチップのそれぞれの構成要素のアルゴリズム記述を受信するステップと、システムオンチップの構成要素同士の間の複数の相互接続のアルゴリズム記述を受信するステップと、構成要素のアルゴリズム記述および相互接続のアルゴリズム記述を使用して、システムオンチップのアルゴリズム記述を受信するステップと、システムオンチップのアルゴリズム記述を格納するステップとを含む。]
[0006] 一実施形態では、構成要素が少なくとも１個のレジスタを含む、システムオンチップの構成要素をテストするための方法が提供される。１つのかかる実施形態では、この方法は、構成要素のアルゴリズム記述を受信するステップであって、その構成要素によってサポートされた少なくとも１つの機能のそれぞれに関して、アルゴリズム記述が、その構成要素の少なくとも１個のレジスタに関する少なくとも１つのレジスタ値へのその機能のマッピングを定義する、受信するステップと、構成要素のアルゴリズム記述を格納するステップとを含む。この方法は、システムオンチップの構成要素のそれぞれに関して繰り返されることが可能である。]
[0007] 本発明の教示は、添付の図面と共に、以下の詳細な説明を考慮することによって容易に理解され得る。]
図面の簡単な説明

[0008] テスト環境のハイレベルブロック図である。
図１のテスト環境のシステムオンチップのハイレベルブロック図である。
「アクセスなし」構成要素の入出力知識を示す図である。
「限定されたアクセス」構成要素または「完全なアクセス」構成要素の入出力知識を示す図である。
構成要素の内部スキャンパスのスライスの明示的な参照を示す図である。
クロスロードデバイスの表示のハイレベルブロック図である。
システムオンチップのスキャンパスを動的に修正するための一般的なクロスロードデバイスの使用のハイレベルブロック図である。
ＮＳＤＬを使用して記述され得る１つのクロスロードデバイスのハイレベルブロック図である。
ＮＳＤＬを使用して記述され得る１つのクロスロードデバイスのハイレベルブロック図である。
ＮＳＤＬを使用して記述され得る１つのクロスロードデバイスのハイレベルブロック図である。
図１のテスト環境のテストシステムのハイレベルブロック図である。
ＪＴＡＧ接続を介してシステムをテストするために、図１のテストシステムによって実行される例示的な方法を示す図である。
ＪＴＡＧ接続を介してシステムをテストするために、図１のテストシステムによって実行される例示的な方法を示す図である。
ＪＴＡＧ接続を介してシステムをテストするために、図１のテストシステムによって実行される例示的な方法を示す図である。
図２のシステムオンチップの構成要素のうちの１つをテストするためのテスト手順に関するレジスタビット値を決定するための構成要素の記述の使用を示す図である。
図２のシステムオンチップの構成（ｃｏｍｐｏｓｉｔｉｏｎ）のうちの１つをテストするためのテスト手順に関するビットストリームを決定するための、図２のシステムオンチップの構成の記述の使用を示す図である。
ＩＪＴＡＧ／ＮＳＤＬフレームワーク内のシステムの構成要素をテストするための、図１のテストシステムによって実行される例示的な方法を示す図である。
例示的なシステムオンチップのハイレベルブロック図である。
図１８のシステムオンチップの構成要素のうちの１つをテストするためのテスト手順に関するレジスタビット値を決定するための構成要素の記述の使用を示す図である。
図１８のシステムオンチップの構成の記述を決定するための、図１８のシステムオンチップの構成要素の記述の使用を示す図である。
並列アクセスインターフェースの一般的な接続方式のハイレベルブロック図である。
２つの例示的な並列アクセス接続方式を示すハイレベルブロック図である。
例示的なテスト環境のハイレベルブロック図である。
図２３Ａの例示的なテスト環境におけるデータフローのハイレベルブロック図である。
システムオンチップの並列ポートとコアとの間の例示的な接続のハイレベルブロック図である。
システムオンチップの並列ポートとコアとの間の例示的な接続のハイレベルブロック図である。
システムオンチップの並列ポートとコアとの間の例示的な接続のハイレベルブロック図である。
システムオンチップの並列ポートとコアとの間の例示的な接続のハイレベルブロック図である。
並列アクセスインターフェースの内部接続方式のハイレベルブロック図である。
システムオンチップのテストリソースを記述するための方法を示す図である。
本明細書で説明される機能を実行する際に使用するのに適した汎用コンピュータのハイレベルブロック図である。] 図１ 図１８ 図２ 図２３Ａ
実施例

[0009] 理解を円滑にする目的で、図面に共通の同一の要素を指定するために、可能な場合、同一の参照番号が使用されている。]
[0010] 本明細書で説明されるように、命令ＪＴＡＧ（ＩＪＴＡＧ）は、基板レベルのＪＴＡＧテストからチップレベルのＪＴＡＧテストへの移行に関連する既存のＪＴＡＧ限界を克服するために標準化されている（Ｐ１６８７標準、または、その代わりにＩＪＴＡＧとして示される）が、ＩＪＴＡＧに関連する進行中の作業は、ＢＳＤＬ／ＨＳＤＬが、チップレベルのバウンダリスキャンに関する記述要件を満たすことが可能でないことを明らかにした。本発明は、チップレベルのＪＴＡＧテストに関するＢＳＤＬ／ＨＳＤＬの限界を克服する新しいハードウェア記述言語を提供する。この新しいハードウェア記述言語は、本明細書において、新しいＢＳＤＬ（ＮＳＤＬ）と呼ばれる。このＮＳＤＬ言語は、システムオンチップのテストリソースの記述を可能にし、それによって、システムオンチップのテストを円滑にする。ＮＳＤＬ記述言語の多数の利点は、以下のＮＳＤＬの説明から理解され得る。]
[0011] 本明細書で説明されるように、新しいハードウェア記述言語、ＮＳＤＬは、ＪＴＡＧベースのテストにおいて追加の進歩も可能にする。ＮＳＤＬ記述言語は、システムオンチップデバイスのテストを円滑にするために、いわゆる「クロスロードデバイス」の使用を可能にする。クロスロードデバイスは、システムオンチップのシステムスキャンパスの動的修正を可能にする。ＮＳＤＬ記述言語は、システムオンチップデバイスのテストを円滑にするために、並列アクセスの使用も可能にする。システムオンチップデバイスに対する並列アクセスは、多くの様式で提供されることが可能である。さらに、かかる進歩はＮＳＤＬ記述言語によって可能にされているが、かかる進歩は、後に開発され得るその他の記述言語に関して利用されることも可能である点に留意されたい。]
[0012] ハードウェア開発プロセスにおいて、３人の主な関係者が存在する。すなわち、デバイスプロバイダ、システム設計者、およびテストエンジニアである。デバイスプロバイダは、特定のデバイスを作成する。システム設計者は、システムを構成するために、デバイスプロバイダによって提供されたデバイスを使用する。テストエンジニアは、システムが適切に機能していることを確実にするために、システムをテストする（例えば、システムのデバイス同士の間の相互接続、デバイスの機能、システムの機能などをテストする）。ＮＳＤＬ言語は、（例えば、そのデバイスを記述するために）デバイスプロバイダによって使用されることが可能であり、（例えば、システムを構成する際に）システム設計者によって使用されることが可能であり、（例えば、システムをテストする際に）システム試験者によって使用されることが可能である。したがって、ＮＳＤＬ言語は、ハードウェア開発プロセスの全体にわたって使用されることが期待される。]
[0013] システムオンチップ開発プロセスにおいて、システムが構成されるデバイスは、「ソフト」デバイス、すなわち、何らかのハードウェア記述言語でのデバイスの記述であり得る。このプロセスでは、システム設計者は、最終的に、テストエンジニアによってテストされるシステムオンチップを取得するために、システムレベル開発フローにおいて、ソフトデバイスをシステムレベルコードと統合する。（例えば、デバイスの数、デバイス同士の間の相互接続、デバイス内依存、デバイス間依存などの点から）システムオンチップの複雑さが高まると、システムオンチップをテストする複雑さが高まる。ＮＳＤＬ言語は、どんな複雑さのシステムオンチップデバイスも容易に記述されることを可能にし、したがって、テストされることを可能にする。]
[0014] 図１は、テスト環境のハイレベルブロック図を示す。詳細には、テスト環境１００は、システムオンチップ（Ｓ−ｏ−Ｃ）１１０と、テストシステム（ＴＳ）１２０とを含む。ＴＳ１２０は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０をテストする（例えば、（構成要素の機能を含めて）Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の個々の構成要素、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０上のデバイス同士の間の相互接続、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のシステムレベル機能など、ならびにそれらの様々な組合せをテストする）。ＴＳ１２０は、（ＴＤＩポートとして示される）入力ポート１１５Ｉおよび（ＴＤＯポートとして示される）出力ポート１１５Ｏを含むテストアクセスポート（ＴＡＰ）１１５を経由してＳ−ｏ−Ｃ１１０をテストする。] 図１
[0015] 一実施形態では、Ｐ１６８７環境において、ＴＡＰ１１５は、ＩＥＥＥ１１４９．１標準によって記述される。本明細書において、ＴＤＩポート１１５ＩおよびＴＤＯポート１１５Ｏを使用して主に示され、かつ説明されるが、ＴＡＰ１１５は、（分かりやすくするために省略されている）ＴＣＫポート、ＴＭＳポート、および、オプションで、ＴＲＳＴポートなど、その他の制御ポートを含むことが可能である。さらに、ＩＥＥＥ１１４９．１標準によって記述されるＴＡＰに関して主に示され、かつ説明されるが、ＴＡＰ１１５は、様々なその他のポート（例えば、その他の標準によって記述されるポートなど、ならびにそれらの様々な組合せ）を利用することが可能である。]
[0016] ＴＳ１２０は、テスト手順を使用して、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のテストを実行する。ＴＳ１２０は、１つまたは複数のテスト手順を使用して、１つまたは複数のテストを実行することが可能である。テスト手順は、構成要素の一部（例えば、構成要素の機能、構成要素の機能のセット、構成要素内依存など）、構成要素、構成要素のグループ（例えば、構成要素同士の間の相互接続、構成要素間依存など）、１つまたは複数のシステムレベル機能など、ならびにそれらの様々な組合せ）をテストするために使用されることが可能である。]
[0017] ＴＳ１２０は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０をテストするためのテスト手順を生成する。テスト手順は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０をテストするために求められる情報を指定する。Ｓ−ｏ−Ｃ１１０向けのテスト手順は、（Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の個々の構成要素のそれぞれの記述、ならびに、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のシステムレベルの記述を含めて）Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の記述を指定することが可能である。テスト手順は、入力テストベクトルおよび期待される出力テストベクトルを指定することが可能である。テスト手順は、テストに関して求められる推定時間、テストに関する出力データ処理（例えば、ロギング、エラートリガリング（ｅｒｒｏｒ ｔｒｉｇｇｅｒｉｎｇ）、回復動作など）など、ならびにそれらの様々な組合せ）など、テストに関連するその他の情報を含み得る。]
[0018] ＴＳ１２０は、（Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の個々の構成要素のそれぞれの記述、ならびに、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のシステムレベルの記述を含めて）Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の記述を使用してＳ−ｏ−Ｃ１１０をテストするためのテスト手順を生成する。Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の個々の構成要素の記述は、ＮＳＤＬを使用して指定され得る。個々の構成要素の記述は、構成要素の内部スキャンパスを記述することが可能である。Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のシステムレベルの記述は、ＮＳＤＬを使用して指定され得る。Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のシステムレベルの記述は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のトポロジ（例えば、構成要素同士の間の相互接続、構成要素間依存など）を記述することが可能である。]
[0019] （個々の構成要素の記述、システムレベルの記述などを含めて）Ｓ−ｏ−Ｃ１１０に関する記述情報は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０に関するテスト手順を生成する際に使用するように適合された情報を含む。例えば、記述情報は、スキャンパス長情報、スキャンパス階層情報など、ならびにそれらの様々な組合せを決定するために処理され得る、構成要素スキャンパス情報、システムトポロジ情報などを含む。Ｓ−ｏ−Ｃ１１０に関する記述情報は、本明細書で説明される任意のその他の記述情報を含み得る。]
[0020] ＴＳ１２０は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０上で１つまたは複数のテスト手順を実行することによって、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０をテストする。ＴＳ１２０は、それぞれのテストが実行されるように、入力ビットストリームおよび期待されるテスト結果（例えば、期待される出力ビット値または出力ビットストリーム）を生成する。ＴＳ１２０は、（入力テストベクトルと呼ばれる）入力ビットストリームをＴＤＩポート１１５Ｉに提供して、（出力テストベクトルと呼ばれる）対応する出力ビットストリームをＴＤＯポート１１５Ｏから受信する。ＴＳ１２０は、テストの結果を決定するために、実際の出力ビットストリームを期待される出力ビットストリームと比較する。ＴＳ１２０は、テスト結果を格納することが可能である。]
[0021] ＴＳ１２０は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０をテストするための１つまたは複数のテスト手順を実行することが可能である。ＴＳ１２０は（異なるスケジューリング決定が、結果として、テスト手順の同じセットに関して、異なるテスト完了時間をもたらすことになるため）総テスト時間を最小限に抑えるように複数のテスト手順の実行を組織することが可能である。ＴＳ１２０は、テストスケジュール（すなわち、それに従ってテスト手順が実行されなければならない順序を指定するスケジュール）を指定することが可能である。ＴＳ１２０は、システムオンチップのテストに関連する様々なその他の機能を実行することが可能である。]
[0022] 図２は、図１のテスト環境のシステムオンチップのハイレベルブロック図を示す。図２に示されるように、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０は、複数の構成要素相互接続２２０（集合的に、構成要素相互接続２２０）によって相互接続された複数の構成要素２１０Ａ〜２１０Ｅ（集合的に、構成要素２１０）を含む。] 図１ 図２
[0023] 構成要素２１０は、システムオンチップシステム内に含まれることが可能な任意の構成要素を含み得る。構成要素２１０は、ＮＳＤＬを使用して記述されることが可能である。構成要素２１０は、本明細書でテストリソースと呼ばれる場合もある。]
[0024] 一実施形態では、Ｐ１６８７標準によるシステムにおいて、構成要素２１０は、ＩＰ、計器（ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ）、および／または計器選択ビット（ｓｅｌｅｃｔ ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ ｂｉｔｓ）（ＳＩＢ）を含み得る。]
[0025] 知的財産（ＩＰ）デバイスは、テストを必要としている通常のデバイスである。]
[0026] 計器は、テストを必要とする以外に、テストを支援するように適合された機能性（例えば、値の読み取り、値の監視、有用な情報の提供など、ならびにそれらの様々な組合せ）を提供するデバイスである。例えば、計器は、寿命加速テストをパラメータ化するために使用されることになる温度センサーの出力であり得る。例えば、計器は、ソフトウェア定義された無線の獲得段階に関して調整可能なフィルタを較正するために使用されるセンサーの基準値であり得る。すなわち、計器は、初期のシステムテストの間、ならびに、システムの寿命の全体の両方でテストを支援することが可能である。]
[0027] ＩＰ／計器は非常に類似する可能性があるという点で、これら２つの用語は、本明細書において、交換可能に使用されることが可能である。さらに、ＩＰおよび計器は、システムオンチップの構成要素として使用されることが可能であるため、ＩＰおよび計器は、本明細書において、より一般に、構成要素と呼ばれる場合がある。]
[0028] ＩＰ／計器は、階層化スキャンパスを含み得る。階層化スキャンパスを有する構成要素は、構成要素がシステム内に導入されるときシステムスキャンパスの一部になる内部スキャンパスを含む。]
[0029] ＳＩＢは、（どの１つまたは複数のデバイスがテストにおいて使用されることになるかに応じて）スキャンパスの一部がスキャンパス内に動的に含まれること、またはスキャンパスから動的に除去されることを可能にする階層化スキャンパスセルである。ＳＩＢは、Ｐ１６８７標準の現在の草案のハードウェア提案の一部を形成する。]
[0030] 一般に、階層は、システムオンチップの構成要素のテストを改善する。例えば、階層は、テストの間にアクティブなシステムスキャンパスの最小化と構成要素の隔離とを可能にし、それによって、システムオンチップの構成要素に対するアクセス時間を削減する）。]
[0031] その他の実施形態では、その他の標準によるシステムにおいて、構成要素２１０は、その他のタイプの構成要素を含み得る。]
[0032] 一実施形態では、構成要素２１０は、１つまたは複数のクロスロードデバイスを含み得る。システムオンチップテストにおけるクロスロードデバイスの使用は、ＮＳＤＬ言語の使用によって可能にされる（すなわち、大部分のかかるデバイスは、ＢＳＤＬ／ＨＳＤＬによって記述されていることが可能でない）。システムオンチップテストにおけるクロスロードデバイスの使用は、図６〜図１０に関してよりよく理解され得る。] 図１０ 図６ 図７ 図８ 図９
[0033] 図２に示すように、構成要素２１０のそれぞれは、複数の内部レジスタを含む。詳細には、構成要素２１０Ａは３個のレジスタ（Ａ０，Ａ１，Ａ２）を含み、構成要素２１０Ｂは６個のレジスタ（Ｂ０，Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４，Ｂ５）を含み、構成要素２１０Ｃは５個のレジスタ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３，Ｃ４）を含み、構成要素２１０Ｄは３個のレジスタ（Ｄ０，Ｄ１，Ｄ２）を含み、構成要素２１０Ｅは４個のレジスタ（Ｅ０，Ｅ１，Ｅ２，Ｅ３）を含む。それぞれの構成要素２１０のレジスタは、その構成要素２１０に関する内部スキャンパスを形成する。それぞれの構成要素２１０の内部スキャンパスは、ＮＳＤＬを使用して記述されることが可能である。] 図２
[0034] 図２に示すように、構成要素２１０のそれぞれは、少なくとも１つの機能をサポートする。詳細には、構成要素２１０Ａは３つの機能をサポートし、構成要素２１０Ｂは４つの機能をサポートし、構成要素２１０Ｃは３つの機能をサポートし、構成要素２１０Ｄは２つの機能をサポートし、構成要素２１０Ｅは１つの機能をサポートする。構成要素２１０のそれぞれによってサポートされるこれらの機能は、それぞれ、構成要素２１０のそれぞれのレジスタ（すなわち、内部スキャンパス）を利用する。したがって、構成要素２１０のそれぞれによってサポートされる機能は、ＮＳＤＬを使用して記述されることが可能である。] 図２
[0035] 図２に示すように、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の構成要素２１０は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の構成要素相互接続２２０を経由して接続される。構成要素２１０（すなわち、構成要素２１０の内部スキャンパス）および構成要素２１０同士の間の構成要素相互接続２２０は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の入力テストポート（ＴＤＩ）からＳ−ｏ−Ｃ１１０の出力テストポート（ＴＤＯ）へのシステムスキャンパス（すなわち、パス）を形成する。このシステムスキャンパスは、（例えば、それによって、ＮＳＤＬに基づくシステム全体の記述を形成するために、ＮＳＤＬを使用して個々の構成要素のそれぞれを定義し、ＮＳＤＬを使用してシステムの構成を定義することによって）ＮＳＤＬを使用して定義され得る。] 図２
[0036] 本明細書で説明されるように、（すなわち、構成要素２１０、構成要素相互接続２２０、構成要素内依存および構成要素間依存などのそれぞれが相関するアルゴリズムの収集物を使用する際に記述されるため）ＮＳＤＬに基づくＳ−ｏ−Ｃ１１０のシステム全体の記述は、アルゴリズム記述である。Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のアルゴリズム記述は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０をテストする際にＴＳ１２０による使用のために適合された情報（例えば、スキャンパス長情報、スキャンパス階層情報など、ならびにそれらの様々な組合せ）を含む。]
[0037] システムオンチップは、システムオンチップの構成要素のそれぞれを記述すること（例えば、ＩＰ、計器、（使用される場合）クロスロードデバイスなど、およびそれらの様々な組合せの記述）と、（システムオンチップの構成要素のそれぞれの間の相互接続、構成要素内依存および構成要素間依存など、ならびにそれらの様々な組合せの記述を含めて）システムオンチップのトポロジを記述することとによって記述されることが可能である。]
[0038] 一実施形態では、構成要素がＩＰ、計器、および／または計器選択ビット（ＳＩＢ）を含む、Ｐ１６８７標準によるシステムでは、システムオンチップの記述は、（例えば、内部レジスタの意味、適用／監視するための手順／ビットストリームのセットなどを含めて）それぞれのＩＰ／計器の記述、（ＳＩＢが使用される場合）それぞれのＳＩＢの記述、システムスキャンパスの構成の記述（すなわち、それぞれの構成要素の内部スキャンパスがどのように構成要素を通過するかなどを含めて、スキャンパスがシステムオンチップをどのように通過するか）など、ならびにそれらの様々な組合せを必要とする。]
[0039] スキャンチェーン内にＩＰを挿入することは、スキャンチェーンを介したＩＰのテストを可能にする。システムオンチップ内のＩＰの使用は、ＩＰに関するアクセス特権レベル（ＡＰＬ）（例えば、アクセスなし、限定されたアクセス、完全なアクセス）に応じて異なる。]
[0040] ＩＰに関するＡＰＬが「アクセスなし」である場合、テストツールはＩＰの内部の知識を有さず、したがって、ＩＰのプロバイダによって提供された情報に依存しなければならない。例えば、ＩＰに関するビットストリームのセット（すなわち、入力ビットストリームおよび期待される出力ビットストリーム）が提供されなければならない。この場合、これらのビットストリームは、静的ビットストリームと見なされる。テストツールは、ＩＰに関する静的入力ビットストリームをシステムオンチップに関するシステムビットストリーム内に挿入して、ＩＰのプロバイダによって指定されたように、対応する出力ビットストリームを処理しなければならない。]
[0041] ＩＰに関するＡＰＬが「完全なアクセス」である場合、テストツールは、ＮＳＤＬ内に記述されたＩＰの内部スキャンチェーン、および選り抜きの記述言語でのＩＰのソースの両方を含めて、ＩＰの内部の完全な知識を有する。この場合、テストツールは、（例えば、その独自のアルゴリズムを使用して）ＩＰに関して求められる入力ビットストリームおよび期待される出力ビットストリームを直接的に演算することが可能であり、またはＩＰのプロバイダは、（例えば、静的ビットストリームおよび／または動的ビットストリームとして）事前に演算されたビットストリームのセットを提供することが可能である。]
[0042] ＩＰに関するＡＰＬが「限定されたアクセス」である場合、テストツールは、ＩＰの内部の限定された知識だけを有する。ＩＰのＮＳＤＬ記述が提供される。ＩＰのＮＳＤＬ記述は、ＩＰの内部スキャンチェーンの記述と、ＩＰをテストするために使用され得る手順のセットとを含む。この場合、テストツールは、ＩＰをテストする際に使用するためのビットストリーム（例えば、入力ビットストリームおよび期待される出力ビットストリーム）を生成するために、ＩＰの記述を使用する。]
[0043] 計器をシステムオンチップ内に挿入することは、ある値またはある条件の検査を介したシステムオンチップのテストを可能にする。計器は、テスト目的で使用され得る１つまたは複数の機能をサポートすることが可能である。したがって、ＩＰの記述は、ＩＰをテストするために必要とされる手順のセットだけを含むものの、計器の記述は、計器の機能にアクセスするために使用され得る手順（および／またはビットストリーム）のセットも含む。計器の記述は、計器が構成されるレジスタのレジスタ値の点から、計器の機能の記述を含み得る。したがって、ＮＳＤＬを使用すると、ＩＰと計器との間の唯一の違いは、手順のセットである。]
[0044] ＩＰおよび計器に関して本明細書で説明されるように、ＩＰおよび計器の記述は、手順を使用して指定されることが可能である。手順は、手順が呼び出されるたびに実行されることになるアトミック命令（ａｔｏｍｉｃ ｉｎｓｔｒｕｃｔｉｏｎｓ）の連結と見なされることが可能である。]
[0045] ＩＰ／計器に関する手順の記述は、ＩＰ／計器のＡＰＬに依存し得る。]
[0046] 構成要素のＡＰＬが「アクセスなし」である場合、これらの手順は、ビットストリーム値（すなわち、スキャンパス内に書き込まれることになる値およびスキャンパスから読み取られることになる値）として表されることが可能である。]
[0047] 構成要素のＡＰＬが「限定されたアクセス」または「完全なアクセス」である場合、ＩＰ／計器のスキャンパスの知識は、これらの手順が構成され得るように、ＩＰ／計器に関する手順の表示に関して追加の自由を提供する。手順の空間構成は、システムオンチップのシステムスキャンパスの入出力を構成するために、異なる手順の入出力がどのように使用され得るかを示す。時間構成は、特定の動作を実行するために、同じ構成要素（例えば、ＩＰ／計器）に対して手順がどのように連続して適用され得るかを示す。加えて、手順は、より大きな手順および／もしくは複数のより小さな手順に入れ子にされること、ならびに／またはより大きな手順および／もしくは複数のより小さな手順から入れ子にされることが可能である。]
[0048] 手順は手順属性（すなわち、手順の記述）と手順本体とを含む。手順の記述は、長さ、ビジーモード指示、入力条件、終了条件、依存、内部スキャンパス記述など、ならびにそれらの様々な組合せなどの情報を含み得る。]
[0049] 固定長手順は、実行されるのに常に同じ時間量がかかる手順と定義され得る。可変長手順は、実行されるのに可変の時間量がかかる手順と定義され得る。可変長手順は、その他の時間値（例えば、最善の時間および最悪の時間、平均時間など、ならびにそれらの様々な組合せ）を使用して定義されることが可能である。一実施形態では、それぞれの可変長手順に関して、少なくとも１つの終了条件が提供されなければならない。]
[0050] 手順の長さは、サイクル（または、サイクルを用いた表現が可能でない場合、秒または何らかのその他の時間単位など、何らかのその他の絶対項）を用いて表されることが可能である。例えば、物理的な計測を行う計器、非同期計器、非同期クロック領域で動作している計器などの場合、サイクルを用いて手順の長さを表すことは可能でない。手順の長さが時間で表される場合、テストツールは（例えば、実際のテストクロック期間の知識を用いて）サイクルカウントを決定することが可能であり、または（例えば、基準クロック周期を使用して）サイクルカウントを推定することが可能である。]
[0051] 手順ビジーモードが手順によって宣言されるべきである。手順の実行の間に、スキャンチェーンの値が変化してはならない（すなわち、それぞれのスキャンアクセスがその値を同じ値にリセットしなければならない）場合、手順のビジーモードは「保留」である。例えば、「保留」計器は、組合せデバイスであり得る（すなわち、この場合、それぞれの修正が結果に影響を及ぼす）。手順の実行の間に、スキャンチェーンの値が重要でない場合、手順のビジーモードは「注意無用（ｄｏｎ’ｔ ｃａｒｅ）」である。例えば、「注意無用」計器は、トリガされたときだけ入力をサンプリングする任意のデバイスであり得る。]
[0052] システムオンチップの記述は、そのシステムオンチップに関連する依存の記述も含む。システムオンチップの依存は、（システムオンチップの１つの構成要素の機能同士または手順同士の間の）構成要素内依存、および（システムオンチップの異なる構成要素の機能同士または手順同士の間の）構成要素間依存を含む。依存の記述は、（例えば、それらをリストアップすること、名称ベースでリンクさせることなど、ならびにそれらの様々な組合せによって）多くの形で指定され得る。]
[0053] 例えば、機能Ｘがリストアップされた副機能のそれぞれが完了するまで、その実行を開始できないことを意味する「機能Ｘは、機能Ｘ１，Ｘ２，．．．，Ｘｎの完了に依存する」という表示を介して記述されることが可能である。例えば、手順Ｘは、多くの理由で、手順Ｙは手順Ｘが実行される前に完了されなければならないことを意味する「手順Ｘは、手順Ｙに依存する」という表示を介して記述されることが可能である。システムオンチップの依存は、様々なその他の形で記述されることが可能である。]
[0054] システムオンチップの構成要素内依存および構成要素間依存が宣言されるべきである。依存の宣言は、テストツールがテストスケジューリングを実行することを可能にする。一実施形態では、依存は、依存の（１つまたは複数の）手順の宣言的部分の一部として宣言されることが可能である。一実施形態では、依存は、明示的な名前付けを使用して宣言されることが可能である。１つのかかる実施形態では、外部依存をその外部依存が関連する構成要素の（１つまたは複数の）記号名とリンクさせるために、汎用パラメータが利用され得る。]
[0055] ＮＳＤＬを使用すると、依存の記述および宣言は、様々なその他の形で実行されることが可能である。]
[0056] 構成要素（または、複数の構成要素のグループ）に関する１つの手順（または、複数の手順）の構成は、（１つもしくは複数の）構成要素の（１つもしくは複数の）ＡＰＬに基づいて変化し、これは、その構成要素に関連する入出力情報の知識に影響を及ぼす。]
[0057] 図３は、「アクセスなし」構成要素３００の入出力知識を示す。構成要素のＡＰＬが「アクセスなし」である場合、その構成要素によってサポートされるそれぞれの機能に関して、機能の本体は、（入力ビットストリームを構成するために使用されることになる）入力ビットストリーム情報、関数の長さ情報およびスキャンパス長さ情報、ならびに出力ビットストリーム情報（例えば、期待される出力ビットストリーム、求められる出力ビットストリーム処理など、ならびにそれらの様々な組合せ）から構成されることになる。] 図３
[0058] 図４は、「限定されたアクセス」構成要素または「完全なアクセス」構成要素４００の入出力知識を示す。構成要素のＡＰＬが「限定されたアクセス」または「完全なアクセス」である場合、構成要素の内部スキャンパスは知られている（すなわち、構成要素のレジスタのそれぞれ、ならびに、レジスタのトポロジは知られている）。構成要素の内部スキャンパスは、１つまたは複数の階層レベル上で配信され得る複数のスライスに区分化されることが可能である。異なる階層レベルに対するアクセスは、（例えば、隣接レベルの１つまたは複数のレジスタを使用して）いかなるようにも制御され得る。構成要素の内部スキャンパスをいくつかの階層レベルに区分化することは、図４に関して示され、かつ説明される構成要素に関してよりよく理解され得る。] 図４
[0059] 図４に示されるように、内部スキャンパスは（スライス１、２、３、４、５として示される）５つのスライスに区分化される。内部スキャンパスの５つのスライスは、（レベル０、１として示される）２つの階層レベル上で配信される。スライス１、２、３、４、および５は、それぞれ、４個のレジスタ、４個のレジスタ、３個のレジスタ、３個のレジスタ、および２個のレジスタで構成される。スライス１、２、および５は、階層レベル０内に配置される。スライス３および４は、階層レベル１内に配置される。（レジスタＨ１として示される）レジスタは、内部スキャンパス階層レベル０とレベル１との間のアクセスを制御する。Ｈ１レジスタは、スライス３および４が迂回される（すなわち、これらのスライスが内部スキャンパスから排除される）ように、またはスライス３および４が迂回されない（すなわち、これらのスライスが内部スキャンパス内に含まれる）ように内部スキャンパスを制御する。] 図４
[0060] 図４に示されるように、内部スキャンパスは以下のように構成される。スライス１の入力はＴＤＩであり、スライス１の出力はスライス２の入力である。スライス２の入力は、スライス１の出力であり、スライス２の出力は、Ｈ１（レベル０入力）に対する第１の入力である。レベル０において、Ｈ１の入力は、スライス２の出力であり、Ｈ１の出力は、スライス５の入力である。レベル１において、Ｈ１の出力は、スライス３の入力であり、Ｈ１の入力は、スライス４の出力である。スライス３の入力は、Ｈ１の出力（レベル１の出力）であり、スライス３の出力は、スライス４の入力である。スライス４の入力は、スライス３の出力であり、スライス４の出力は、Ｈ１の入力（レベル１の入力）である。スライス５の入力は、Ｈ１の出力（レベル０の出力）であり、スライス５の出力はＴＤＯである。] 図４
[0061] 一実施形態では、構成要素の内部スキャンパスを複数のスライスに区分化することは、機能的である、すなわち、内部スキャンパスのそれぞれのスライスは、その上で動作している１つまたは複数のスライス機能を有し、それらのスライスのそれぞれは、そのそれぞれがテストツールによって独立してスケジュール可能な１つまたは複数のスライス手順を使用してテストされることが可能である。この実施形態では、内部スキャンパスの所与のスライス上で動作している機能の本体は、「アクセスなし」構成要素の機能の本体の構成に類似した形で構成され得る（すなわち、機能の本体は、入力ビットストリーム情報、関数の長さ情報およびスキャンパス長情報、出力ビットストリーム情報など、ならびにそれらの様々な組合せを使用して説明される）。]
[0062] したがって、内部スキャンパスの異なるスライスまたはスライスの組合せを用いて動作している異なる手順を利用して、構成要素の内部スキャンパスの区分化は、様々な形で使用されることが可能である。例えば（図４を参照すると）、スライス１に関連する第１の手順Ｐ１は、データをスライス１内に書き込むために実行されることが可能であり、それによって、構成要素内のいくつかの機能の実行をトリガし、これは、結果として、結果データをスライス２内に格納し、エラーデータをスライス５内に格納する。次いで、それぞれ、スライス２および５の値を読み取るために（それぞれ、スライス２および５の上で動作している）２つの追加の手順Ｐ２およびＰ５が実行され得る。したがって、（複数の階層レベルの全域で区分化することを含めて）内部スキャンパスをスライスに区分化することは、システムオンチップテストにおいて大きな柔軟性を提供する。ＴＳ１２０は、アルゴリズム手順を直列テストビットストリーム（例えば、入力ビットストリームおよび期待される出力ビットストリーム）に容易に変換することが可能である。] 図４
[0063] 構成要素の内部スキャンパスのスライスを利用するために異なる手順が開発され得るため、内部スキャンパスのスライスを利用する手順は、（その中の信号を含めて）スライスを参照することが可能でなければならない。手順は、スライスをいかなるようにも参照することが可能である。一実施形態では、例えば、手順は、明示的な名前付けを使用してスライスを参照することが可能である。１つのかかる実施形態では、それぞれのスライス（すなわち、レジスタまたはレジスタのグループ）に独自の名前が割り当てられ、それによって、階層的にインスタンスが作成された（ｉｎｓｔａｎｔｉａｔｅｄ）スライスが記録のようにアクセスされることを可能にする。構成要素のスライスを識別するために明示的な名前付けを使用する例は、図５に関して示され、かつ説明される。] 図５
[0064] 図５は、構成要素５００の内部スキャンパスのスライスの明示的な参照を示す。図５に示されるように、構成要素５００は、そのそれぞれが、独自の名前によって参照される６つのスライスを有する１２個のレジスタスキャンパスを含む。第１のスライスは、ＢＳ＿０と名付けられた単一のレジスタである。第２のスライスは、ＢＳ＿１と名付けられた単一のレジスタである。第３のスライスは、ＢＳ＿０、ＢＳ＿１、ＢＳ＿２、およびＢＳ＿３と名付けられた４個のレジスタを含む、ＳＣＡＮ＿４＿ＢＩＴ＿０と名付けられた４個のレジスタの直列チェーンである。第４のスライスは、ＢＳ＿０、ＢＳ＿１、ＢＳ＿２、およびＢＳ＿３と名付けられた４個のレジスタを含む、Ａｎｏｔｈｅｒ＿ＳＣＡＮ＿４＿ＢＩＴと名付けられた４個のレジスタの直列チェーンである。第５のスライスは、ＢＳ＿２と名付けられた単一のレジスタである。第６のスライスは、ＢＳ＿３と名付けられた単一のレジスタである。] 図５
[0065] 本明細書で説明されるように、階層的にインスタンスが作成されたレジスタは、記録のようにアクセスされることが可能である。例えば、矢印１によって示されるレジスタの独自の名前はＢＳ＿１である（２個のその他のレジスタがＢＳ＿１と名付けられているが、階層的な名前付けの使用がレジスタの独自の名前付けをどのように確実にするかを理解されよう）。例えば、矢印２によって示されるスライス（すなわち、レジスタのグループ）の独自の名前は、ＳＣＡＮ＿４＿ＢＩＴ＿０である。例えば、矢印３によって示されるレジスタの独自の名前は、ａｎｏｔｈｅｒ＿ＳＣＡＮ＿４＿ＢＩＴ．ＢＳ＿１である。すなわち、内部スキャンパスのそれぞれのスライス、ならびに、それぞれのスライスのそれぞれのレジスタは、スライスおよびレジスタの任意の数の階層レベルに関して、独自の名前を使用して参照されることが可能である。]
[0066] 本明細書において、構成要素に関する手順または手順のセットを定義するために利用され得る特定の手順属性（例えば、手順の長さ、機能依存および手順依存、内部スキャンパス記述、スライス記述、スライス基準属性など）に関して主に示され、かつ説明されるが、様々なその他の手順属性が指定され得る。手順を記述するために使用される手順属性は、システムオンチップテストをサポートするように手順を記述するために使用されることが可能な任意の情報を含み得る。]
[0067] 手順属性に加えて、手順は手順本体を含む。手順本体は、手順の詳細を含む。手順本体は、いかなるようにも実装され得る。手順本体は、スキャンパスの概念を有さない（むしろ、アクセスは、スライス上で並行して行われ、テストツールはこれらの動作をシステムスキャンパスに対するアクセスに融合する）。手順本体は、様々な文、主張、入れ子にされた手順など、ならびにそれらの様々な組合せを使用することが可能である。]
[0068] ＶＨＤＬ言語を使用して実装されたＮＳＤＬを使用してシステムオンチップが記述される（したがって、システムオンチップに関連する手順のそれぞれがＶＨＤＬ言語を使用して実装されたＮＳＤＬを使用して記述される）一実施形態では、手順本体は、ＶＨＤＬ構文を使用して表現されることが可能である。手順の手順本体は、システムオンチップの記述の実装形態に応じて、その他の形で表現されることが可能である。]
[0069] 構成要素の内部スキャンパスの記述は、ＮＳＤＬによって容易に提供される。ＮＳＤＬでは、それぞれのレジスタセルはエンティティと見なされ、レジスタセルは、（例えば、ＮＳＤＬがＶＨＤＬのスーパーセットとして実装されるとき、ＶＨＤＬ規則を使用して）パッケージにグループ化されることが可能である。ＮＳＤＬでは、それぞれのレジスタエンティティは、２つの汎用パラメータ、すなわち、レジスタインスタンスを明示的に参照することによって、スキャンパスを表現するために使用され得る「ｐｒｅｃｅｄｅｎｔ（先行部分）」および「ｆｏｌｌｏｗｉｎｇ（後続部分）」を使用して記述される。レジスタエンティティの「ｐｒｅｃｅｄｅｎｔ」パラメータは、そのレジスタエンティティに対する入力のソースを指定する。レジスタエンティティの「ｆｏｌｌｏｗｉｎｇ」パラメータは、そのレジスタエンティティからの出力の宛先を指定する。したがって、レジスタエンティティは、単一のレジスタ、（階層的グループ化を含めて）レジスタのグループなどを含み得る。]
[0070] 構成要素の内部スキャンパスの記述は、図５に関して示され、かつ説明される内部スキャンチェーンに対応する以下のサンプルコードに関してよりよく理解され得る。] 図５
[0071] 以下のサンプルコードは、直列に配置された４個の基本的なバウンダリスキャンレジスタを含む簡単なスキャンパスを示し、この場合、第１のバウンダリスキャンレジスタは、ＴＤＩポートから入力を受信し、第４のバウンダリスキャンレジスタはＴＤＯポートに出力を提供する。]
[0072] BS_0: BS generic map (precedent => "TDI", following => "BS_1");
BS_1: BS generic map (precedent => "BS_0", following => "BS_2");
BS_2: BS generic map (precedent => "BS_1", following => "BS_3");
BS_3: BS generic map (precedent => "BS_2", following => "TDO");]
[0073] この４個のレジスタスキャンチェーンは、エンティティ内にカプセル化されて、階層的にインスタンスが作成されることが可能である。以下のサンプルコードは、（ＳＣＡＮ＿４＿ＢＩＴ＿０レジスタエンティティ、およびａｎｏｔｈｅｒ＿ＳＣＡＮ＿４＿ＢＩＴレジスタエンティティを記述する際に最終的に使用するために）この４個のレジスタスキャンチェーンが正にどのようにエンティティ内にカプセル化されて、階層的にインスタンスが作成されることが可能であるかを示す。]
[0074] EntitySCAN_4_BIT is
Generic (precedent : string := "TDI"; following : string := "TDO");
End entity;
Architecture A of SCAN_4_BIT is
begin
BS_0: BS generic map (precedent => precedent, following => "BS_1");
BS_1: BS generic map (precedent => "BS_0", following => "BS_2");
BS_2: BS generic map (precedent => "BS_1", following => "BS_3");
BS_3: BS generic map (precedent => "BS_2", following => following);
end;]
[0075] 以下のサンプルコードは、（図５に関して示され、かつ説明されたように、１２個のレジスタスキャンパスが、４個の個々のレジスタと、４個のレジスタレジスタスキャンチェーンから構成される２つのレジスタエンティティとを含めて、６つのレジスタエンティティの記述を使用して表される）図５の１２個のレジスタスキャンパスの表示（記述）を示す。] 図５
[0076] BS_0: BS generic map (precedent => "TDI", following => "BS_1 ");
BS_1: BS generic map (precedent => "BS_0", following => "SCAN_4_BIT_0");
SCAN_4_BIT_0: BS generic map (precedent => "BS_1", following =>
"another_SCAN_4_BIT");
another_SCAN_4_BIT: BS generic map (precedent => "SCAN_4_BIT_0",
following => "BS_2");
BS_2: BS generic map (precedent => "another_SCAN_4_BIT", following => "BS_3");
BS_3: BS generic map (precedent => "BS_2", following => "TDO");]
[0077] このタイプの記述情報を使用すると、スキャンパスに関する情報（例えば、その長さ、その階層構造など、ならびにそれらの様々な組合せ）は、（例えば、文脈上の検査を使用して）コンパイル時にテストツールによって自動的に演算されることが可能である。さらに、レジスタエンティティの記述は、（例えば、その他の設計における使用に関して）極めて再利用可能である。レジスタエンティティに関する記述情報は、多くの異なる形で収集、格納、および検査されることが可能であるため（すなわち、記号表の実装は、例えば、ハッシュテーブル、データベースなどの点から、コンパイラ同士の間でかなり異なる場合があるため）、かかる詳細は、分かりやすくするために、かつ一般性のために省略される。]
[0078] さらに、このタイプの記述を使用すると、システムオンチップのそれぞれの構成要素は容易に記述されるため、システムオンチップのシステム全体の記述は、（構成要素同士の間の相互接続の記述、構成要素間依存の記述など、ならびにそれらの様々な組合せを含めて）個々の構成要素の記述を組み合わせることによって取得されることが可能である。すなわち、ＮＳＤＬは、システムオンチップ構成を記述する（かつ、したがって、テストする）際にかなりの柔軟性を提供する。]
[0079] 本明細書で説明されるように、システムオンチップのスキャンパスの一部を形成する一般的な構成要素を記述することが可能であることに加えて、ＮＳＤＬは、システムオンチップのスキャンパスに対する動的変更を可能にするデバイスを記述することも可能である。このタイプのデバイスは、ＮＳＤＬ用語において「クロスロードデバイス」と呼ばれる。クロスロードデバイスの一般的な表示は、図６に関して示され、かつ説明される。] 図６
[0080] 図６は、クロスロードデバイスの表示のハイレベルブロック図を示す。詳細には、クロスロードデバイス表示６００は、システムオンチップのスキャンパスを動的に修正することが可能なクロスロードデバイスを表す。クロスロードデバイスは、（アフルエント（ａｆｆｌｕｅｎｔｓ）と呼ばれる）１つまたは複数の入力を（トリビュタリ（ｔｒｉｂｕｔａｒｉｅｓ）と呼ばれる）１つまたは複数の出力に経路指定する。図６に示されるように、クロスロードデバイス表示６００は、（ｐａｔｈ＿ｉｎ＿０からｐａｔｈ＿ｉｎ＿ｍとして示される）複数のアフルエントと（ｐａｔｈ＿ｏｕｔ＿０からｐａｔｈ＿ｏｕｔ＿ｎとして示される）複数のトリビュタリとを含む。] 図６
[0081] システムオンチップをテストする際にクロスロードデバイスを使用するために、クロスロードデバイスは記述されなければならない。クロスロードデバイスの（１つまたは複数の）動的に可変なスキャンパスの記述は、特に静的なスキャンパスを処理するように設計されたＢＳＤＬ／ＨＳＤＬを使用することを達成することが（不可能でない場合）非常に困難である。対照的に、クロスロードデバイスの（１つまたは複数の）動的に可変なスキャンパスの記述は、テストツールによって容易に理解されるクロスロードデバイスのアルゴリズム記述を提供するＮＳＤＬによって容易に提供される。]
[0082] ＮＳＤＬを使用したクロスロードデバイスの一般的な記述が続く。]
[0083] IP is
Generic(
precedent : string := "TDI";
following : string := "TDO";
affluent : string := "deselected";
tributary : string := "deselected";
);
End ;]
[0084] 上に提示されたクロスロードデバイスの一般的な記述から理解されるように、汎用パラメータ「ａｆｆｌｕｅｎｔ」および「ｔｒｉｂｕｔａｒｙ」は、階層化スキャンパスにアクセスするために使用されることが可能である。汎用パラメータ「ａｆｆｌｕｅｎｔ」および「ｔｒｉｂｕｔａｒｙ」は、クロスロードデバイスがスキャンパス内の通過構成要素として単に動作する（すなわち、アフルエントとトリビュタリはアクティブではなく、したがって、スキャンパスを動的に修正しない）ように、当初「ｄｅｓｅｌｅｃｔｅｄ（選択解除された）」に設定される。クロスロードデバイスは、相対的な選択機能を呼び出すために「ａｆｆｌｕｅｎｔ」パラメータおよび「ｔｒｉｂｕｔａｒｙ」パラメータを使用することによって、スキャンパスを動的に修正するためにアクティブ化されることが可能である。]
[0085] ２つ以上のアフルエントおよび／または２つ以上のトリビュタリが存在する場合、アフルエントおよび／またはトリビュタリのそれぞれは、独自に識別されなければならない。一実施形態では、例えば、簡単な順序数（例えば、アフルエントに関して、ａｆｆｌｕｅｎｔ＿０、ａｆｆｌｕｅｎｔ＿１など、トリビュタリに関して、ｔｒｉｂｕｔａｒｙ＿０、ｔｒｉｂｕｔａｒｙ＿１など）が使用され得る。このＮＳＤＬベースの記述を使用して、テストツールは、汎用パラメータを単に参照することによって、クロスロードデバイスを介した接続を理解することが可能である。]
[0086] クロスロードデバイスの記述は、いかなるようにも生成され得る。一実施形態では、クロスロードデバイスの記述は、システムオンチップの１つの構成要素（または、複数の構成要素）に対するアクセスを動的に制御するように適合されたアーキテクチャを経由して相互接続された入力接続のセットおよび出力接続のセットの記述を使用して生成される。クロスロードデバイスの記述は、テストの際に使用するために格納され得る。プロセッサは、テストを実行する際に使用するために、（例えば、メモリから、別のシステムから、または、かかる記述の任意のその他のソースから）クロスロードデバイスの記述を受信することまたは取り出すことが可能である。]
[0087] 本明細書で説明されるように、入力接続のセットは、（ＴＤＩからの方向に、システムオンチップのスキャンパスに接続された）スキャンパス入力接続と、（構成要素アクセス入力接続として示される）構成要素に対する少なくとも１つの接続とを含み、出力接続のセットは、（ＴＤＯに向けた方向に、システムオンチップのスキャンパスに接続された）スキャンパス出力接続と、（構成要素アクセス出力接続として示される）構成要素に対する少なくとも１つの接続とを含む。]
[0088] 一実施形態では、入力接続のセットは、（スキャンパス入力接続に関する）「ｐｒｅｃｅｄｅｎｔ」パラメータと、（１つまたは複数の構成要素アクセス入力接続に関する）１つまたは複数の「ａｆｆｌｕｅｎｔ」パラメータとを使用して指定される。一実施形態では、出力接続のセットは、（スキャンパス出力接続に関する）「ｆｏｌｌｏｗｉｎｇ」パラメータと、（１つまたは複数の構成要素アクセス出力接続に関する）１つまたは複数の「ａｆｆｌｕｅｎｔ」パラメータとを使用して指定される。]
[0089] クロスロードデバイスは、システムスキャンパスをいかなるようにも動的に修正することが可能である。このアーキテクチャは、構成要素を経由して、入力接続のセットのうちのいくつかを出力接続のセットのうちのいくつかと動的に接続するための任意のアーキテクチャであってよく、この場合、クロスロードデバイスは、構成要素をシステムスキャンパスに加えるために選択される。例えば、このアーキテクチャは、切替アーキテクチャ、バスアーキテクチャ、ネットワークアーキテクチャなどであり得る。]
[0090] 一実施形態では、クロスロードデバイスの記述は、ツールをテストすることによって理解されているように適合された、少なくとも１つの構成規則（ｃｏｍｐｏｓｉｔｉｏｎａｌ ｒｕｌｅ）を含むアルゴリズム記述である。クロスロードデバイスの記述は、（例えば、「ａｆｆｌｕｅｎｔ」パラメータおよび「ｔｒｉｂｕｔａｒｙ」パラメータを修正することによって）構成要素をスキャンパスに動的に加え、構成要素をスキャンパスから動的に除去するように動的に修正されることが可能である。]
[0091] システムオンチップテストにおいてテストリソースを記述するためにＮＳＤＬを使用することは、クロスロードデバイスがシステムオンチップテストにおいて使用されることを可能にするように、多くの異なるクロスロードデバイスが記述されることを可能にする。ＮＳＤＬによって記述され得る異なるクロスロードデバイスは、３つの広い範疇にグループ化され得る。詳細には、クロスロードデバイスは、「有線」接続、「トランザクション」接続、または「有線トランザクション」接続を表すことが可能である。]
[0092] 「有線」クロスロードデバイスは、システムオンチップのスキャンパス内に基本的に有線接続される（かつ、必要に応じて、選択または選択解除され得る）クロスロードデバイスである。「有線」クロスロードデバイスは、切替に類似した形で動作する（すなわち、接続は、必要に応じて、アフルエントとトリビュタリとの間で動的にプログラムされることが可能である）。「有線」クロスロードデバイスのスキャンパスはシステムオンチップのシステムスキャンパス内に有線接続されるため、「有線」クロスロードデバイスのスキャンパスは、明示的に選択解除される必要がある。「有線」クロスロードデバイスの第１の実施例（詳細には、Ｐ１６８７ハードウェア提案の一部である、計器選択ビット（ＳＩＢ）構成要素）が図８に示され、かつ説明される。「有線」クロスロードデバイスの第２の実施例は、図９に示され、かつ説明される。] 図８ 図９
[0093] 「トランザクション」クロスロードデバイスは、一時的な接続（すなわち、特定のトランザクションを表す接続）をサポートするクロスロードデバイスである。「トランザクション」クロスロードデバイスは、任意のアーキテクチャ（例えば、バス、ネットワークオンチップなど）として動作することが可能である。トランザクションは、「トランザクション」クロスロードデバイスのアーキテクチャによってサポートされ得る任意のトランザクション（例えば、バスアーキテクチャにおけるバスアクセス、ネットワークアーキテクチャにおけるルーティングなど）であり得る。「トランザクション」クロスロードデバイスのスキャンパスはトランザクションのときだけアクティブであるため、「トランザクション」クロスロードデバイスのスキャンパスは、明示的に選択解除される必要はない。「トランザクション」クロスロードデバイスの実施例は、図１０に示され、かつ説明される。] 図１０
[0094] 「有線」クロスロードデバイスにおいて、少なくとも１つの構成要素アクセス入力接続および少なくとも１つの構成要素アクセス入力接続は、有線接続である。したがって、（１つまたは複数の）構成要素アクセス入力接続および（１つまたは複数の）構成要素アクセス出力接続は、異なる物理接続である。「トランザクション」クロスロードデバイスにおいて、少なくとも１つの構成要素アクセス入力接続および少なくとも１つの構成要素アクセス入力接続は、複数のトランザクションをサポートするために、１つの物理接続が使用され得るようなトランザクション接続である（すなわち、（１つまたは複数の）構成要素アクセス入力接続および（１つまたは複数の）構成要素アクセス出力接続は、同じ物理接続を共有することが可能であるが、異なるトランザクション接続と見なされ得る）。]
[0095] ＢＳＤＬ／ＨＳＤＬを使用すると、特定の「有線」クロスロードデバイス（すなわち、ＳＩＢ構成要素）を記述することが可能であるものの、この記述は非常に困難である。さらに、ＢＳＤＬ／ＨＳＤＬを使用した、より複雑な「有線」クロスロードデバイスの記述は、可能でない場合がある。さらに、ＢＳＤＬ／ＨＳＤＬを使用した「トランザクション」クロスロードデバイスおよび「有線トランザクション」クロスロードデバイスの記述は、可能でない可能性が高い。したがって、このために、Ｐ１６８７において標準化されているクロスロードデバイスだけがＳＩＢ構成要素である。]
[0096] 対照的に、ＮＳＤＬを使用すると、任意の「有線」クロスロードデバイス、「トランザクション」クロスロードデバイス、および「有線トランザクション」クロスロードデバイスの記述が明らかにサポートされ、テストツールによって容易に解釈される。確かに、事実上、システムオンチップのスキャンパスを動的に修正することが可能な、どんな複雑さのいかなるクロスロードデバイスも、ＮＳＤＬを使用して記述されることが可能である。ＮＳＤＬの能力を例示するために、クロスロードデバイス（および、ＮＳＤＬを使用して表現されるそのそれぞれの記述）の少数の例は、本明細書において、図７〜１０に関して提供される。] 図１０ 図７ 図８ 図９
[0097] 図７は、システムオンチップのスキャンパスを動的に修正するための、汎用クロスロードデバイスの使用のハイレベルブロック図を示す。図７に示されるように、システムオンチップ７００は、汎用クロスロードデバイス７１０を含むスキャンパスを含む。スキャンパスは、２つの固定スキャンパス部分（すなわち、常にスキャンパス内に含まれることが意図される部分）と、オプションのスキャンパス部分（すなわち、クロスロードデバイス７１０によってスキャンパス内に動的に含まれること、およびスキャンパス内から動的に除去されることが可能な部分）とを含む。] 図７
[0098] 図７に示されるように、システムオンチップ７００のスキャンパスにおいて、テストアクセス入力（ＴＤＩ）は、（一連のバウンダリスキャンセルを含む）第１の固定スキャンパス部分に結合され、第１の固定スキャンパス部分は、クロスロードデバイス７１０の第１の入力（すなわち、先行部分）に結合され、クロスロードデバイス７１０の第１の出力（すなわち、後続部分）は、第２の固定スキャンパス部分に結合され、第２の固定スキャンパス部分は、テストアクセス出力（ＴＤＯ）に結合される。] 図７
[0099] クロスロードデバイス７１０は、システムオンチップ７００のスキャンパスに対するオプションのスキャンパス部分の動的な（選択的な）組込みを可能にする。詳細には、クロスロードデバイス７１０は、第１の固定スキャンパス部分の出力をオプションのスキャンパス部分の入力に結合するために選択され得る第２の出力（すなわち、トリビュタリ）を含み、オプションのスキャンパス部分の出力を第２の固定スキャンパス部分の入力に結合するために選択され得る第２の入力（すなわち、アフルエント）を含む。]
[0100] クロスロードデバイス７１０は、入出力の特定の組合せを選択すること／選択解除することによって、スキャンパスが動的に修正されることを可能にする。クロスロードデバイス７１０の第２の出力および第２の入力が選択解除されるとき、スキャンパスは、ＴＤＩ、ＳＣＡＮ＿４＿ＢＩＴ＿０、ＢＳ＿０、ＢＳ＿１、クロスロードデバイス７１０、ＢＳ＿２、ＴＤＯである。クロスロードデバイス７１０の第２の出力および第２の入力が選択されるとき（すなわち、第１の入力が第２の出力に接続されて、第２の入力が第１の出力に接続されるとき）、スキャンパスは、ＴＤＩ、ＳＣＡＮ＿４＿ＢＩＴ＿０、ＢＳ＿０、ＢＳ＿１、クロスロードデバイス７１０、ａｎｏｔｈｅｒ＿ＳＣＡＮ＿４＿ＢＩＴ、ＢＳ＿３、クロスロードデバイス７１０、ＢＳ＿２、ＴＤＯである。]
[0101] 図８は、ＮＳＤＬを使用して記述され得る１つのクロスロードデバイスのハイレベルブロック図を示す。詳細には、図８は、ＳＩＢデバイス８００を示す。ＳＩＢデバイス８００は、（すなわち、構成要素がスキャンパスに加えられるように）別の構成要素の選択を可能にする。] 図８
[0102] ＳＩＢデバイスは、選択ビットによって制御される。選択ビットの値が「０」のとき、セルはアクティブではない（セルは、正にスキャンパスの内部のビットである）。選択ビットの値が「１」に設定されたとき、スキャンパスは、ポートＷＳＩｏ（すなわち、トリビュタリ）を介して外部に経路指定され、ポートＷＳＯｉ（すなわち、アフルエント）を介して内部に経路指定され、それによって、それらのポートが接続される任意のデバイスをスキャンパスに加える。]
[0103] （分かりやすくするために行番号を加えた状態で）ＳＩＢデバイス８００のＮＳＤＬベースの記述が続く。]
[0104] 1 IP SIB generic (precedent : string := "TDI";
2 following : string := "TDO";
3 tributary : string := "deselected"；
4 affluent : string:= "deselected")
5 Begin
6 Up SIB : REG generic map (precedent =>"TDI",
7 following=>"TDO"
8 elements =>1);
9
10 Procedure select
11 Length 1;
12 Selection wired;
13 {
14 Up Sib ＜＝‘1’；
15 tributary：＝ "TDI"；
16 affluent:＝ "TDO"；
17 }
18
19 Procedure deselect
20 Length 1 ;
21 Selection wired;
22 {
23 Up Sib ＜＝‘0’；
24 tributary :＝"deselected";
25 affluent :＝ "deselected";
26 }
27
28 End SIB;]
[0105] ＳＩＢデバイス８００の記述において、ライン６〜９は、内部レジスタ（すなわち、ＳＩＢデバイス８００の場合、正に１ビットである、階層を処理するためにテストツールが必要とするビット）を宣言し、ライン１０〜１７は選択手順を示し、ライン１９〜２６は、（そのそれぞれの名前を使用してテストツールによって容易に識別される）選択解除手順を示す。]
[0106] 記述の本体において、ＮＳＤＬの２つの役割を識別するのは容易である。すなわち、（１）スキャンパスの修正、したがって、ビットストリームはスライス処理によって表現され（ライン１４および２３を参照）、（２）トポロジの修正は、（例えば、トポロジマッピングにおける「ｐｒｅｃｅｄｅｎｔ」および「ｆｏｌｌｏｗｉｎｇ」の割当てに類似した形で）列の値を割り当てることによって行われる。]
[0107] 図９は、ＮＳＤＬを使用して記述され得る１つのクロスロードデバイスのハイレベルブロック図を示す。詳細には、図９は、階層切替デバイス９００を示す。階層切替デバイス９００は、３つの入力アフルエントと２つの出力トリビュタリとを含む。３つのアフルエントおよび２つのトリビュタリを有するとして示されるが、任意の数のアフルエントおよびトリビュタリがサポートされ得る。] 図９
[0108] （分かりやすくするために行番号を加えた状態で）階層切替デバイス９００のＮＳＤＬベースの記述が続く。]
[0109] 1 IP Hierarchy_switch generic (precedent : string := "TDI";
2 following : string := "TDO";
3 tributary_0 : string := "deselected";
4 tributary_1 : string := "deselected";
5 affluent_0 : string:= "deselected";
6 affluent_1 : string:= "deselected";
7 affluent_2 : string:= "deselected";
8 )
9
10 Begin
11
12 Affl_map: Vector_REG generic map (precedent =>"TDI",
13 following=>"Trib_map"
14 elem_size => 2;
15 elements => 3);
16 Trib_map : Vector_REG generic map (precedent =>"Affl_map",
17 following=>"TDO"
18 elem_size => 2;
19 elements => 2);
20
21 subtype name is string (1 to 11);
22 type name_vector is array (natural range <>) of name;
23 constant affluent_name : name_vector (0 to 2) :=
24 ("affluent_0 ","affluent_1 ","affluent_2");
25 constant tributary_name : name_vector (0 to 1) :=
26 ("tributary_0","tributary_1");
27
28
29 Procedure select(affluent_nmb : in std_logic_vector(1 downto 0);
30 tributary_nmb : in std_logic)
31 Length 1;
32 Selection wired;
33 {
34 Trib_map ＜= affluent_nmb;
35 Affl_map ＜= "0"&tributary_nmb;
36
37 case (tributary_nmb)
38 when‘0’＝＞tributary_0：=
39 affluent_name(conv_integer(affluent_nmb))；
400 when‘1’＝＞ tributary_1：=
41 affluent _name(conv_integer(affluent_nmb))；
42 end case；
43
44 case (affluent_nmb)
45 when "00"=> affluent_0:=
46 tributary_name(conv_integer(tributary_nmb));
47 when "01" => affluent_1 :=
48 tributary_name(conv_integer(tributary_nmb));
49 when "10" => affluent_2 :=
50 tributary_name(conv_integer(tributary_nmb));
51 whenothers => assert false report "ERROR!" severity failure;
52 end case;
53 }
54
55 Procedure deselect_affluent
56 (affluent_nmb : in std_logic_vector(1 downto 0))
57 Length 1;
58 Selection wired;
59 {
60 Affl_map <= "11";
61 case (affluent_nmb)
62 when "00" => affluent_0 := "deselected";
63 when "01" => affluent_1 := "deselected";
64 when "10" => affluent_2 := "deselected";
65 when others => assert false report "ERROR!" severity warning;
66 end case;
67
68 }
69
70 Procedure deselect_tributary (tributary_nmb : in std_logic)
71 Length 1;
72 Selection wired;
73 {
74 Trib_map <= "11"；
75 case (tributary_nmb)
76 when ‘0’=> tributary_0 := "deselected";
77 when ‘1’=> tributary_ 1:= "deselected";
78 end case;
79 }
80 End hierarchy_switch;]
[0110] 階層切替デバイス９００の記述において、ライン３〜７は、（それぞれに独自の名前が与えられている場合）アフルエントおよびトリビュタリを宣言し、ライン１２〜１９は、（すなわち、切替マトリックスに類似した）内部スキャンパスを宣言し、ライン２１〜２６は、いくつかのカスタムタイプを定義することによって、ＶＨＤＬ機能を十分に活用する（それによって、本質的に階層的な記述子に関する切替マトリックスになるものを作成する）。]
[0111] 階層切替デバイス９００の記述において、「選択」手順（ライン２９〜５３）は、ビットストリーム修正を処理し、さらに、動的なスキャンパス修正を記述するために、ＶＨＤＬアルゴリズム機能（および事前に定義されたカスタムタイプ）を処理する。機能のこれらのパラメータは、接続されることになる経路の順序数を指す。]
[0112] 階層切替デバイス９００の記述から理解されるように、階層切替デバイス９００を介して接続を非アクティブにすることは、接続の両終端の選択解除を必要とせず、むしろ、接続の１つの終端だけの選択解除が接続の役目を果たす。したがって、選択解除は、２つの手順によって処理されることが可能である。すなわち、（１）「ｄｅｓｅｌｅｃｔ＿ａｆｆｌｕｅｎｔ」は、（順序数をパラメータとして使用して）アフルエントの選択解除を可能にし、（２）「ｄｅｓｅｌｅｃｔ＿ｔｒｉｂｕｔａｒｙ」は、（順序数をパラメータとして使用して）トリビュタリの選択解除を可能にする。]
[0113] 図１０は、ＮＳＤＬを使用して記述され得る１つのクロスロードデバイスのハイレベルブロック図を示す。詳細には、図１０は、バスアーキテクチャデバイス１０００を示す。バスアーキテクチャデバイス１０００は、構成要素バス１０１２を経由して相互接続されたマスターゲートウェイ構成要素１０１１と、５つのスレーブ構成要素１０１３Ａ〜１０１３Ｅ（集合的に、スレーブ構成要素１０１３）とを含む。] 図１０
[0114] バスアーキテクチャデバイス１０００において、スレーブ構成要素１０１２のそれぞれには、スレーブ構成要素１０１２にアクセスするためにゲートウェイ構成要素１０１１によって使用されるアドレスが割り当てられる。ゲートウェイ構成要素１０１１がスレーブ構成要素１０１２アクセスすることを可能にするために、ある種のプロトコルがバスアーキテクチャデバイス１０００によってサポートされなければならないが、バスアーキテクチャデバイス１０００のＮＳＤＬベースの記述は、そのプロトコルに関するどんな情報も必要としない。]
[0115] （分かりやすくするために行番号を加えた状態で）バスアーキテクチャデバイス１０００のＮＳＤＬベースの記述が続く。]
[0116] ゲートウェイパッケージの記述。]
[0117] 1 Package GW_package is
2
3 Constant N_SLAVES : integer := 5;
4 Constant ADDRESS_DEPTH: integer := 3;
5 subtype slave_name_type is string (1 to 1);
6 subtype slave_address_type is std_logic_vector
7 (ADDRESS_DEPTH-1 downto 0);
8
9 Type slave_mapping_type is record
10 slave_name : slave_name_type;
11 slave_address : slave_address_typr;
12 end record;
13
14 Type network_mapping_type is array (1 to N_SLAVES) of
15 slave_mapping_type;
16
17 Constant BUS_OP_FIELDS : integer := 2;
18
19 Constant BUS_READ : std_logic_vector(BUS_OP_FIELDS-1
downto 0) := "01";
20 Constant BUS_ WRITE: std_logic_vector(BUS_OP_FIELDS-1
downto 0) := "10";
21 Constant BUS_IDLE: std_logic_vector(BUS_OP_FIELDS-1 downto
0) := "00";
22
23 End GW_package;

Gateway Description:
1 Use GW_package.all;
2
3 IP GW generic (precedent : string := "TDI";
4 following : string := "TDO";
5 tributary : string := "deselected";
6 affluent : string := "deselected";
7 network_mapping: network_mapping_type);
8
9
10 Begin
11
12 Address_map :REG generic map (precedent => "TDI",
13 following=> "TDO"
14 elements => ADDRESS_DEPTH);
15 Bus_operation : REG generic map(
16 precedent => "Address_map";
17 following => "TDO";
18 elements => BUS_OP_FIELDS);
19
20 Function get_slave_address(name : in slave_name_type)
21 return slave_address_type is
22 Begin
23 for k in N_SLAVES loop
24 If network_mapping(k).slave_name = name then
25 return network_mapping(k).slave_address;
26 End loop;
27 asset false report "ERROR, slave "&name&" does not exist"
28 severity failure;
29 end get_slave_address;
30
31 Procedure select_tributary(tributary_name :in slave_name_type)
32 Length 10;
33 Selection transaction;
34 {
35 address_map <＝ get_slave_address(tributary_name);
36 bus_operation <＝ BUS_WRITE;
37 tributary:＝tributary_name;
38 }
39
40 Procedure select_affluent(affluent_name : in slave_name_type)
41 Length 10;
42 Selection transaction;
43 {
44 address_map <＝ get_slave_address(affluent_name);
45 bus_operation <＝ BUS_READ;
46 affluent :＝ affluent_name;
47 }
48
49 End GW;]
[0118] バスアーキテクチャデバイス１０００のＮＳＤＬベースの記述は、より良好な可読性を目指して２つのファイルに分けられている。詳細には、バスアーキテクチャデバイス１０００のＮＳＤＬベースの記述は、以下の部分に分けられる。すなわち、（１）バスアーキテクチャデバイス１０００に関するタイプ宣言のすべてをホストするパッケージ、および（２）バスアーキテクチャデバイス１０００の記述である。]
[0119] バスアーキテクチャデバイス１０００のＮＳＤＬベースの記述は、バスアーキテクチャデバイス１０００のバスプロトコルの実際の実装に関する情報を必要とせず、むしろ、ＮＳＤＬベースの記述は、バスアーキテクチャデバイス１０００内でトランザクションを開始するために求められるコマンドに関する情報だけを必要とする。トランザクションは、ＮＳＤＬベースの記述内に含まれた「ｓｅｌｅｃｔ＿ｔｒｉｂｕｔａｒｙ」機能および「ｓｅｌｅｃｔ＿ａｆｆｌｕｅｎｔ」機能によって定義される。]
[0120] 「ｓｅｌｅｃｔ＿ｔｒｉｂｕｔａｒｙ」機能（ライン３１〜３８）は、バスに「書込み」動作を命令するために、（カスタムタイプおよび機能を利用している）良好なレジスタに良好なアドレスを書き込む。「ｓｅｌｅｃｔ＿ａｆｆｌｕｅｎｔ」機能（ライン４０〜４７）は、バスから「読取り」動作を命令するために、（カスタムタイプおよび機能を利用している）良好なレジスタから良好なアドレスを読み取る。]
[0121] バスアーキテクチャデバイス１０００は、「トランザクション」クロスロードデバイスであるため、バスアーキテクチャデバイス１０００のＮＳＤＬベースの記述は、「選択」手順または「選択解除」手順を必要とせず、むしろ、テストツールが、その接続は一回だけアクティブになり、次いで、アフルエントおよびトリビュタリは「選択解除された」に設定し戻されることになることを知るように、「選択」手順および「選択解除」手順は、「トランザクション」として印される。]
[0122] 本明細書で説明されるように、バスアーキテクチャデバイス１０００などのクロスロードデバイス（および、その他のクロスロードデバイス）は、完全にＰ１６８７標準の現在の機能の範囲外である。バスアーキテクチャデバイス１０００などのクロスロードデバイス（および、その他のクロスロードデバイス）の記述は、ＮＳＤＬの使用によってだけ可能にされる。]
[0123] 本明細書で説明されるように、システムオンチップは、ＮＳＤＬを使用して記述されることが可能であり、さらに、システムオンチップのシステムレベルの記述は、システムオンチップをテストするためにテストツールによって利用されることが可能である。ＮＳＤＬを使用して記述されるシステムオンチップをテストするように適合された例示的なテストツールは、図１１に関して示され、かつ説明される。さらに、ＮＳＤＬを使用して記述されるシステムオンチップのテストは、図１２〜図２０を参照してよりよく理解され得る。] 図１１ 図１２ 図１３ 図１４ 図１５ 図１６ 図１７ 図１８ 図１９ 図２０
[0124] 図１１は、図１のテスト環境のテストシステムのハイレベルブロック図を示す。詳細には、ＴＳ１２０は、プロセッサ１１１０と、メモリ１１２０と、入出力（Ｉ／Ｏ）インターフェース１１３０と、サポート回路１１４０とを含む。プロセッサ１１１０は、メモリ１１２０、Ｉ／Ｏインターフェース１１３０、およびサポート回路１１４０のそれぞれに結合される。プロセッサ１１１０は、本明細書で示され、かつ説明される様々なテスト機能を提供するために、メモリ１１２０、Ｉ／Ｏインターフェース１１３０、およびサポート回路１１４０と協働する。] 図１ 図１１
[0125] 図１１に示されるように、メモリ１１２０は、システムテストを実行する際に使用するように適合されたリソースを格納する。詳細には、メモリ１１２０は、システムテストを実行する際に使用するように適合されたテストツール１１２１、テストリソース記述１１２２、およびテストデータ１１２３を格納する。メモリ１１２０は、（その他１１２４として示される）システムテストを実行するために使用され得る任意のその他のプログラム、記述、データなどを格納することが可能である。] 図１１
[0126] テストツール１１２１は、システムテストを制御する。テストツール１１２１は、１つまたは複数のテスト手順を含み得る。これらのテスト手順は、１つまたは複数のテストコンパイラによって生成され得る。これらのテスト手順は、１つまたは複数のシステムをテストするために実行され得る。テストツール１１２１は、システムテストを制御するために使用され得る任意のその他の手順、プログラムなどを含む。]
[0127] テストリソース記述１１２２は、構成要素記述、システム記述など、ならびにそれらの様々な組合せなど、システムテストにおいて使用するように適合された任意の記述を含み得る。テストリソース記述１１２２は、システムトポロジの記述を含み得る。テストリソース記述１１２２は、システムオンチップテストを実行する際に使用するために処理されることが可能な任意のその他の記述を含み得る。]
[0128] テストリソース記述１１２２は、異なるタイプのテストリソースに関して記述テンプレートが維持され得るように、１つまたは複数のライブラリを含むことが可能である（したがって、必要に応じて、アクセスおよび修正されることが可能である）。これらのテンプレートは、構成要素レベルのテンプレート（例えば、あるＩＰに関するテンプレート、ある計器に関するテンプレートなど）、システムトポロジテンプレートなど、ならびにそれらの様々な組合せであり得る。]
[0129] テストデータ１１２３は、システムテストを実行する際に使用するように適合された任意のデータを含む。テストデータ１１２３は、入力ビットストリームデータ、出力ビットストリームデータ（例えば、テストシステムによって決定された、期待される出力ビットストリーム、およびシステムオンチップから捕捉された実際の出力ビットストリーム）など、ならびにそれらの様々な組合せを含み得る。テストデータ１１２３は、テストされているシステムに適用されることが可能であり、かつ／またはテストされているシステムから回復されることが可能な任意のその他のデータを含み得る。]
[0130] Ｉ／Ｏインターフェース１１３０は、ＴＳ１２０からＳ−ｏ−Ｃ１１０にインターフェースを提供する。Ｉ／Ｏインターフェース１１３０は、ＪＴＡＧベースのインターフェースである。Ｉ／Ｏインターフェース１１３０は、それによって、プロセッサ１１１０によるテスト手順の実行に応答して、ＴＳ１２０が入力ビットストリームをＳ−ｏ−Ｃ１１０に適用することが可能なＴＤＩインターフェースをサポートする。Ｉ／Ｏインターフェース１１３０は、それによって、プロセッサ１１１０によるテスト手順の実行に応答して、ＴＳ１２０が実際の出力ビットストリームをＳ−ｏ−Ｃ１１０から回復することが可能なＴＤＯインターフェースをサポートする。]
[0131] 本明細書において、１つのＴＤＩインターフェースおよび１つのＴＤＯインターフェースに関して主に示され、かつ説明されるが、Ｉ／Ｏインターフェース１１３０は、異なるシステムオンチップ構成をテストするために求められるまたは所望される任意の数および任意の（１つまたは複数の）タイプのテストインターフェースをサポートすることが可能である。例えば、ＪＴＡＧベースのテストの場合、Ｉ／Ｏインターフェース１１３０は、ＴＣＫ信号、ＴＭＳ信号、および、オプションで、ＴＲＳＴ信号に関するインターフェースをサポートすることも可能である。]
[0132] サポート回路１１４０は、システムテストを実行する際に使用され得る任意の追加の回路を含む。例えば、サポート回路１１４０は、追加のプロセッサ、追加のメモリ、追加のインターフェース、テストビットストリーム生成回路、テストビットストリーム処理回路など、ならびにそれらの様々な組合せを含み得る。サポート回路１１４０は、テストシステム１２０によって求められる場合がある任意の追加の回路を含む。]
[0133] プロセッサ１１４０は、本明細書で説明される様々なシステムオンチップテスト機能を提供するために、メモリ１１２０、Ｉ／Ｏインターフェース１１３０、およびサポート回路１１４０と協働する。]
[0134] プロセッサ１１４０は、記述（例えば、機能レベルの記述、構成要素記述など）を生成する。プロセッサ１１４０は、（例えば、構成要素相互接続を解析するため、システム記述を生成するためなどに構成要素記述を使用して）記述を生成するために、テストリソース記述１１２２からの記述を処理する。プロセッサ１１４０は、テストリソース記述１１２２の一部として、それらの記述を格納する。]
[0135] プロセッサ１１４０は、システムオンチップをテストするためのテスト手順を生成して、テストツール１１２１の一部としてそれらのテスト手順を格納する。プロセッサ１１４０は、テストツール１１２１からのテスト手順を使用して、テストデータを生成して、テストデータ１１２３の一部としてそのテストデータを格納する。]
[0136] プロセッサは、本明細書で説明される任意のその他のシステムオンチップテスト機能を提供するために、メモリ１１２０、Ｉ／Ｏインターフェース１１３０、およびサポート回路１１４０と協働することが可能である。]
[0137] システムオンチップのＮＳＤＬベースの記述を使用したシステムオンチップのテストは、システムオンチップのＮＳＤＬベースの記述を使用してシステムオンチップをテストするための方法を提供する図１２〜１４に関してよりよく理解され得る。システムオンチップのＮＳＤＬベースの記述を使用したシステムオンチップのテストは、（システムオンチップの１つの構成要素のテストを例示的に示す）図１５および図１６、（システムオンチップの構成要素をテストするための方法を提供する）図１７、および（システムオンチップのテストを例示的に示す）図１８〜図２０に関してさらに理解され得る。] 図１２ 図１３ 図１４ 図１５ 図１６ 図１７ 図１８ 図１９ 図２０
[0138] 図１２は、ＪＴＡＧ接続を介してシステムをテストするために、図１のテストシステムによって実行される例示的な方法を示す。直列的に実行されているとして示され、かつ説明されるが、図１２の方法１２００のステップの少なくとも一部は、同時に、または、図１２に関して示され、かつ説明されたのとは別の順序で実行されることが可能である。方法１２００は、ステップ１２０２で始まり、ステップ１２０４に進む。] 図１ 図１２
[0139] ステップ１２０４において、システムオンチップに関するテストビットストリームが決定される。テストビットストリームは、入力ビットストリームと、期待される出力ビットストリームとを含む。テストビットストリームは、本明細書で説明されるいずれかの形で決定されることが可能である。一実施形態では、テストビットストリームは、図１３に関して示され、かつ説明される方法を使用して決定される。] 図１３
[0140] ステップ１２０６において、入力ビットストリームは、システムオンチップに適用される。入力ビットストリームは、システムオンチップのＴＤＩインターフェースを経由してシステムオンチップに適用されることが可能である。ステップ１２０８において、システムオンチップから実際の出力ビットストリームが捕捉される。実際の出力ビットストリームは、システムオンチップのＴＤＯインターフェースを経由してシステムオンチップから捕捉され得る。]
[0141] ステップ１２１０において、実際の出力ビットストリームおよび期待される出力ビットストリームを使用して、テスト結果が決定される。テスト結果は（例えば、テストの間に何らかのエラーが存在したか否かを決定するために）実際の出力ビットストリームを期待される出力ビットストリームと比較することによって決定され得る。ステップ１２１２において、テスト結果が格納される。]
[0142] ステップ１２１４において、方法１２００は終了する。]
[0143] 図１３は、ＪＴＡＧ接続を介してシステムをテストするために、図１のテストシステムによって実施される例示的な方法を示す。詳細には、図１３の方法１３００は、システムオンチップをテストする際に使用するためのテストビットストリームを決定するための方法を含む。直列的に実行されているとして示され、かつ説明されるが、図１３の方法１３００のステップの少なくとも一部は、同時に、または、図１３に関して示され、かつ説明されたのとは別の順序で実行されることが可能である。方法１３００は、ステップ１３０２で始まり、ステップ１３０４に進む。] 図１ 図１３
[0144] ステップ１３０４において、（本明細書で、システム記述として示される）システムオンチップの記述が決定される。システム記述は、本明細書で説明されるいずれかの形で決定されることが可能である。システム記述は、システムオンチップのＮＳＤＬベースの記述である。一実施形態では、システム記述は、図１４に関して示され、かつ説明される方法を使用して決定される。] 図１４
[0145] ステップ１３０６において、システムオンチップをテストするためのテストビットストリームがシステムオンチップのシステム記述から決定される。テストビットストリームは、システムオンチップに適用されることになる入力ビットストリームと、システムオンチップから捕捉された実際の出力ビットストリームと比較されることが可能な期待される出力ビットストリームとを含む。]
[0146] ステップ１３０８において、方法１３００は終了する。]
[0147] 図１４は、ＪＴＡＧ接続を介してシステムをテストするために、図１のテストシステムによって実行される例示的な方法を示す。詳細には、図１４の方法１３０４は、システムオンチップのシステム記述を決定するための方法を含む。直列的に実行されているとして示され、かつ説明されるが、図１４の方法１３０４のステップの少なくとも一部は、同時に、または、図１４に関して示され、かつ説明されたのとは別の順序で実行されることが可能である。方法１３０４は、ステップ１４０２で始まり、ステップ１４０４に進む。] 図１ 図１４
[0148] ステップ１４０４において、システムオンチップの構成要素が識別される。システムオンチップの構成要素は、いかなるようにも識別され得る。一実施形態では、システムオンチップの構成要素は、システムオンチップが供給されたテストリソースの一部として識別される。一実施形態では、システムオンチップの構成要素は、システムオンチップを解析することによって識別される。システムオンチップの構成要素は、いずれかのその他の形で識別されることも可能である。]
[0149] ステップ１４０６において、システムオンチップの構成要素のそれぞれに関して構成要素記述が決定される。構成要素記述は、いかなるようにも決定され得る。]
[0150] 構成要素記述が事前に定義される一実施形態では、構成要素記述は、事前に定義された記述を単に読み取ることによって決定されることが可能である。構成要素記述が事前に設定されない一実施形態では、構成要素記述は、構成要素のそれぞれを解析することによって、オンザフライで定義されることが可能である。]
[0151] 構成要素の記述は、構成要素の内部スキャンパスを指定する。一実施形態では、構成要素の記述は、レジスタ値の点から構成要素を表す。構成要素が複数の機能をサポートする、１つのかかる実施形態では、構成要素の機能のそれぞれは、レジスタ値の点から表されることが可能である。レジスタ値の点から構成要素を記述することは、図１５に関してよりよく理解され得る。構成要素記述はＮＳＤＬを使用して指定される。] 図１５
[0152] ステップ１４０８において、システムオンチップのトポロジが決定される。システムオンチップのトポロジは、システムオンチップの構成要素同士の間の相互接続を記述する。システムオンチップのトポロジは、システムオンチップの構成要素同士の間の相互接続を解析することによって決定される。]
[0153] ステップ１４１０において、システムオンチップのシステム記述が決定される。システム記述は、構成要素記述およびシステムトポロジを使用して決定される。システムオンチップのシステム記述は、システムオンチップのそれぞれの構成要素のそれぞれの内部スキャンパスと、システムオンチップの構成要素同士の間の相互接続とを含めて、システムオンチップのスキャンパスを表す。システム記述は、システムオンチップを記述するために使用されることが可能な任意のその他の情報を含み得る。ステップ１４１２において、システムオンチップのシステム記述が格納される。]
[0154] ステップ１４１４において、方法１３０４は終了する。]
[0155] 図１５は、図２のシステムオンチップの構成要素のうちの１つをテストするためのテスト手順に関するレジスタ値を決定するための構成要素の記述の使用を示す。詳細には、（分かりやすくするために省略された）Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の構成要素２１０Ａの記述は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の構成要素２１０Ａに関する（レジスタ値１５１０として示される）レジスタ値のセットに変換される。構成要素２１０Ａのレジスタ値１５１０は、構成要素２１０Ａによってサポートされる３つの機能のそれぞれに関するレジスタ値を含む。構成要素２１０Ａによってサポートされる３つの機能のそれぞれに関するレジスタ値は、テスト構成要素２１０Ａに関して使用されるテストビットストリームをテストに関する値を決定するために処理されることが可能である。] 図１５ 図２
[0156] 図１５に示されるように、構成要素２１０Ａの機能は、構成要素２１０Ａが構成される構成要素レジスタＡ０、Ａ１、Ａ２のレジスタ値の点から説明される。第１の機能は、「０００」、４サイクル待機、「００１」として定義される。第２の機能は、「１１１」、１サイクル待機、「０１０」、５サイクル待機、「１０１」として定義される。第３の機能は、「０００」、２サイクル待機、「１００」、１０サイクル待機、「０００」として定義される。すなわち、レジスタ値１５１０は、機能から構成要素２１０Ａに関する構成要素レジスタ値へのマッピングを指定する。この記述（すなわち、機能からレジスタ値へのマッピング）は、テストビットストリームを決定するために、構成要素の記述が処理され得る容易さを示す。] 図１５
[0157] 図１５に示されるように、構成要素２１０Ａの機能のそれぞれに関して、レジスタ値１５１０は（１）その機能に関して、構成要素レジスタがどのように書き込まれ、かつ読み取られるか、および（２）その機能に関して、構成要素レジスタ値がどのように解釈されなければならないかを示す。したがって、ＮＳＤＬなどの記述言語において、構成要素の記述は、システムオンチップの関連で、構成要素をテストするためのテスト手順において使用するためのレジスタ値に変換されることが可能な構成要素の機能の記述を含む。] 図１５
[0158] 機能からレジスタ値へのマッピングを説明する際に分かりやすくするために省略されているが、ＮＳＤＬの点から、構成要素２１０Ａの特定の記述は、図３〜図５に関して示され、かつ説明されたように構成されたアルゴリズム記述である。構成要素２１０ＡのこのＮＳＤＬベースの記述は、機能からレジスタ値へのマッピングが決定されることを可能にする。分かりやすくするために省略されているが、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のその他の構成要素（すなわち、構成要素２１０Ｂ〜構成要素２１０Ｅ）のそれぞれに関して、類似の記述が定義され得る。] 図３ 図４ 図５
[0159] 図１６は、図２のシステムオンチップの構成要素のうちの１つをテストするためのテスト手順に関するテストビットストリームを決定するための、図２のシステムオンチップの構成の記述の使用を示す。図１６に示されるように、テストビットストリーム１６１０は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の少なくとも一部をテストする際に使用するために生成される。詳細には、テストビットストリーム１６１０は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のＴＤＩポートに適用される入力ビットストリーム１６１１Ｉと、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のＴＤＯポートから受信される出力ビットストリーム１６１１Ｏとを含む。] 図１６ 図２
[0160] テストビットストリーム１６１０は、（ＮＳＤＬを使用して指定される）Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の記述を使用して、ＴＳ１２０によって生成される。（本明細書において、システム記述とも呼ばれる）Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の記述は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のテストリソースの記述（例えば、構成要素２１０の記述、構成要素相互接続２２０の記述など、ならびにそれらの様々な組合せ）を含む。Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のシステム記述は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のトポロジ、したがって、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のシステムスキャンパスを記述する。]
[0161] 本明細書で説明されるように、ＴＳ１２０は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の（システムスキャンパスの記述を提供する）システム記述に基づいてテストビットストリーム１６１０を生成する。したがって、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のシステム記述はＳ−ｏ−Ｃ１１０のシステムスキャンパスの記述を提供するため、ＴＳ１２０は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０に関して生成されたテストビットストリーム１６１０のどの部分が、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のシステムスキャンパスのどの部分に対応するのかを決定することが可能である。これは、図１６に示される。] 図１６
[0162] 図１６に示されるように、入力ビットストリーム１６１１Ｉ内および出力ビットストリーム１６１１Ｏ内の特定のビット位置（すなわち、構成要素２１０Ａに対応するビット位置）が突き止められている。構成要素２１０Ａ内のレジスタに対応する入力ビットストリーム１６１１Ｉ内および出力ビットストリーム１６１１Ｏ内の特定の位置の位置決定は、（Ｓ−ｏ−Ｃ１１０内の構成要素２１０のそれぞれの位置を含めて、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のシステムスキャンパスに関する情報を提供する）Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のＮＳＤＬベースの記述の使用によって可能にされる。] 図１６
[0163] 構成要素レジスタからビットストリームへの変換を説明する際に、分かりやすくするために省略されているが、ＮＳＤＬの点から、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０の特定の記述は、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のトポロジ、したがって、Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のシステムスキャンパスを記述するアルゴリズム記述である。Ｓ−ｏ−Ｃ１１０のこのＮＳＤＬベースの記述は、レジスタ値からビットストリームへの変換が実行されるのを可能にする。]
[0164] 図１７は、ＩＪＴＡＧ／ＮＳＤＬフレームワーク内のシステムの構成要素をテストするために、図１のテストシステムによって実行される例示的な方法を示す。詳細には、図１７の方法１７００は、システムオンチップの１つの構成要素をテストするための方法を含む。直列的に実行されているとして示され、かつ説明されるが、図１７の方法１７００のステップの少なくとも一部は、同時に、または、図１７に関して示され、かつ説明されたのとは別の順序で実行されることが可能である。方法１７００は、ステップ１７０２で始まり、ステップ１７０４に進む。] 図１ 図１７
[0165] ステップ１７０４において、システムオンチップの構成要素が選択される（すなわち、テストされることになるシステムオンチップの構成要素として選択される）。]
[0166] ステップ１７０６において、選択された構成要素の記述が取得される。]
[0167] ステップ１７０８において、構成要素によってサポートされるそれぞれの機能に関して、機能は、その構成要素のレジスタに関連するレジスタ値に変換される。構成要素の機能は、構成要素の記述を使用して、レジスタ値に変換される。]
[0168] ステップ１７１０において、システムオンチップのシステム記述が取得される。システムオンチップのシステム記述は、システムオンチップの構成要素の記述およびシステムオンチップのトポロジの記述から決定された、システムオンチップのシステムスキャンパスを指定する。システム記述は、システムオンチップに関するテストビットストリームを指定するために使用されることが可能である。]
[0169] ステップ１７１２において、システムオンチップのテストビットストリーム内の選択された構成要素の位置がシステムオンチップのトポロジを使用して決定される。テストビットストリーム内の選択された構成要素の位置は、入力ビットストリーム内の１つまたは複数のビット位置および実際の出力ビットストリーム内の１つまたは複数のビット位置を指定する。]
[0170] ステップ１７１３（オプションのステップ）において、（すなわち、構成要素に対するアクセスがクロスロードデバイスによって制御される場合）クロスロードデバイスが駆動される。クロスロードデバイスは、クロスロードデバイスのアルゴリズム記述を処理することによって駆動される。クロスロードデバイスを駆動させることは、関連する構成要素をシステムオンチップのスキャンパスに動的に加えるために、クロスロードデバイスが選択されることを可能にする。構成要素に対するアクセスが、もはや求められなくなった後で、クロスロードデバイスは、次いで、関連する構成要素をシステムオンチップのスキャンパスから除去するために選択解除されることが可能である。構成要素に対するアクセスはクロスロードデバイスによって制御されてよく、またはクロスロードデバイスによって制御されなくてもよいため、このステップはオプションである。]
[0171] ステップ１７１４において、レジスタ値が入力ビットストリームの突き止められた位置内に挿入される。次いで、入力ビットストリームは、（すなわち、システムオンチップの少なくとも一部をテストするために）システムオンチップの入力テストアクセスポートに適用されることが可能である。ステップ１７１６において、結果値が出力ビットストリームの突き止められた位置から（すなわち、システムオンチップの出力テストアクセス部分からテストシステムによって捕捉された出力ビットストリームから）回復される。回復された結果値は、次いで、様々なテスト結果を決定するために処理されることが可能である。]
[0172] ステップ１７１８において、方法１７００は終了する。]
[0173] 図１８は、例示的なシステムオンチップのハイレベルブロック図を示す。図１８に示されるように、システムオンチップ１８００は、フィルタと、アナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）、デジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）、およびアンテナアクセスユニット（ＡＡＵ）を含む、３つの計器とを含む。ＡＡＵは、アナログ・デジタル・アナログ変換をサポートする。このフィルタは、（ＲＸ＿ｏｕｔとして示される）ＡＤＣに対する出力接続と、（ＴＸ＿ｉｎとして示される）ＤＡＣからの入力接続とをサポートする。このフィルタは、（ＡＮ＿ｉｎｏｕｔとして示される）ＡＡＵとの双方向接続をサポートする。] 図１８
[0174] 図１８に示されるように、３つの計器に対するアクセスは、スキャンパスを経由してＴＤＩ入力からＴＤＯ出力に提供される。このスキャンパスは、アクチュエータレジスタと３つのＳＩＢセル（それぞれの計器がスキャンパスに加えられるのを可能にする３つの計器のそれぞれに関して１つ）のセットとを含む。アクチュエータレジスタは、フィルタとインターフェースをとる。第１のＳＩＢセルは、（アフルエントおよびトリビュタリを経由して）ＡＤＣ計器に対するアクセスを提供する。第２のＳＩＢセルは、（アフルエントおよびトリビュタリを経由して）ＤＡＣ計器に対するアクセスを提供する。第３のＳＩＢセルは、（アフルエントおよびトリビュタリを経由して）ＡＡＵ計器に対するアクセスを提供する。] 図１８
[0175] スキャンパスの記述が続く。ＴＤＩ入力は、アクチュエータレジスタのセットの入力に結合される。アクチュエータレジスタのセットの出力は、第１のＳＩＢセルの入力に結合される。第１のＳＩＢの出力は、第２のＳＩＢセルの入力に結合される。第２のＳＩＢセルの出力は、第３のＳＩＢセルの入力に結合される。第３のＳＩＢセルの出力は、ＴＤＯ出力に結合される。ＴＤＩ入力からＴＤＯ出力へのこのシーケンスは、ＳＩＢのそれぞれが選択解除されたとき（すなわち、そのそれぞれの計器がスキャンパスに加えられるように、ＳＩＢのいずれも「選択され」ない場合）システムオンチップ１８００のスキャンパスを形成する。]
[0176] 図１８に示されるように、３つの計器のそれぞれは、それらの３つの計器に関連するそれぞれのＳＩＢセルのアフルエントインターフェースおよびトリビュタリインターフェースを選択することによって、スキャンパスに容易に加えられることが可能である。例えば、第１のＳＩＢは、ＡＤＣ計器がテストのためのスキャンパスに加えられることが可能なように選択され得る。例えば、第１のＳＩＢおよび第３のＳＩＢは、ＡＤＣ計器およびＡＡＵ計器の両方がテストのためにスキャンパスに加えられることが可能なように選択され得る。本明細書で説明されるように、システムオンチップ１８００のＮＳＤＬベースの記述は、システムオンチップ１８００のテストを簡素化する。] 図１８
[0177] 図１９は、図１８のシステムオンチップの構成要素のうちの１つをテストするためのテスト手順に関するレジスタビット値を決定するための構成要素の記述の使用を示す。詳細には、図１９は、（記述１９１０として示される）ＡＤＣ計器の記述の（レジスタ１９２０として示される）ＡＤＣ計器のレジスタに関連するレジスタ値へのマッピングを示す。図１９に示されるように、記述１９１０は、（スキャンパス記述１９１１として示される）スキャンパスの記述と、（機能アルゴリズム１９１２として示される）ＡＤＣ計器によって実行される機能のアルゴリズム表示とを含む。] 図１８ 図１９
[0178] 記述１９１０は、ＮＳＤＬベースの（アルゴリズム）記述である。スキャンパス記述１９１１は、（データレジスタおよび制御レジスタを含む）ＡＤＣ計器のレジスタを識別して、（例えば、「先行部分」、「後続部分」、および長さ情報を識別して）レジスタがどのように構成されるかを記述する。機能アルゴリズム１９１２は、ＡＤＣ計器によって実行される機能の動作を記述する。記述１９１０から、テストツールは、ＡＤＣ計器をテストするために使用され得るビットストリーム値を容易に決定することが可能である。]
[0179] 図２０は、図１８のシステムオンチップの構成の記述を決定するための、図１８のシステムオンチップの構成要素の記述の使用を示す。詳細には、図２０は、（トポロジ２０１０として示される）図１８のシステムオンチップのトポロジの記述を示す。トポロジ２０１０は、システムオンチップ１８００の構成要素（例えば、アクチュエータレジスタ、ＳＩＢ、および計器）のそれぞれの入力および出力のそれぞれの汎用マッピングを使用して指定される。] 図１８ 図２０
[0180] 例えば、アクチュエータレジスタの記述は、アクチュエータレジスタに対する入力がＴＤＩ入力（「ｐｒｅｃｅｄｅｎｔ」＝＞「ＴＤＩ」）であり、アクチュエータレジスタからの出力が、ＡＤＣ計器のＲＸ＿ｒｅｇｉｓｔｅｒに対するアクセスを可能にするため（ｆｏｌｌｏｗｉｎｇ＝＞「ＲＸ＿ｅｎａｂｌｅ」）、ＲＸ＿ｅｎａｂｌｅとして示される第１のＳＩＢであることを示す。すなわち、アクチュエータレジスタ構成要素は、そのアクチュエータレジスタ構成要素がインターフェースをとる構成要素の点から記述される。]
[0181] 例えば、第１のＳＩＢの記述（すなわち、ＲＸ＿ｅｎａｂｌｅ 構成要素）は、ＲＸ＿ｅｎａｂｌｅ構成要素がアクチュエータレジスタに対する入力（ｐｒｅｃｅｄｅｎｔ＝＞「ａｃｔｕａｔｏｒ＿ｒｅｇｉｓｔｅｒ」）であり、第１のＳＩＢの出力が、ＤＡＣ計器のＴＸ＿ｒｅｇｉｓｔｅｒに対するアクセスを可能にするため（ｆｏｌｌｏｗｉｎｇ＝＞「ＴＸ＿ｅｎａｂｌｅ」）、ＴＸ＿ｅｎａｂｌｅとして示される第２のＳＩＢであることを示す。]
[0182] さらに、第１のＳＩＢはＡＤＣ計器に対するアクセスを可能にするため、第１のＳＩＢの記述は、ＡＤＣ計器に対するアクセスも記述する。詳細には、第１のＳＩＢの記述は、第１のＳＩＢからＡＤＣ計器へのアクセスが１つの入力（ａｆｆｌｕｅｎｔ＝＞「ＲＸ＿ｒｅｇｉｓｔｅｒ」）および１つの出力（ｔｒｉｂｕｔａｒｙ＝＞「ＲＸ＿ｅｎａｂｌｅ」）を経由して可能にされることを示す。]
[0183] これらの例から、システムオンチップのトポロジ全体がＮＳＤＬを使用して容易に記述され得ることは明らかである。さらに、トポロジはシステムオンチップの構成要素同士の間の相互接続の記述を提供するため、システムオンチップのトポロジ内のシステムオンチップの構成要素のそれぞれの位置は、容易に決定されることが可能である。]
[0184] 本明細書で説明されるように、（構成要素の機能から構成要素のレジスタに関するレジスタ値へのマッピングを提供する）システムオンチップの構成要素の記述と、システムオンチップのトポロジの記述とを使用して、様々なタイプのテストがシステムオンチップ上で実行され得る。したがって、図１８〜２０は、ＮＳＤＬを使用して、システムオンチップを記述する利点を示す。] 図１８ 図１９ 図２０
[0185] 先の記述から、システムオンチップを記述するためにＮＳＤＬ言語を使用することの様々な利点および利益は明らかである。ＮＳＤＬのアルゴリズム性質は、（トポロジがどんなに複雑であろうと）システムオンチップのテスト（例えば、複数の構成要素のテスト、１つの構成要素のテスト、構成要素の機能のサブセットのテストなど、ならびにそれらの様々な組合せ）のために適合されたテストビットストリームを決定するために処理され得るシステムオンチップのアルゴリズム記述を可能にする。したがって、ＮＳＤＬを使用すると、システムオンチップをテストする際に使用するための、システムオンチップのシステムスキャンパスの階層的記述が決定されることが可能である。]
[0186] ＮＳＤＬ言語は、システムオンチップ構成要素（例えば、ＩＰ、計器、クロスロードデバイスなど）のアルゴリズム記述、システムオンチップトポロジ（例えば、構成要素同士の間の相互接続、構成要素間依存など）など、ならびにそれらの様々な組合せを提供することを含めて、ＢＳＤＬ／ＨＳＤＬが単にできないようにＩＪＴＡＧの特徴をサポートし、それによって、システムオンチップのアルゴリズムシステムレベルの記述を可能にする。したがって、ＮＳＤＬ言語は、階層化スキャンパス組織を可能にし、それによって、レジスタ値をシステムオンチップのテストのために使用され得るテストビットストリームに変換することを可能にする。]
[0187] ＮＳＤＬ言語は、多くの形で実装され得る。]
[0188] 一実施形態では、ＮＳＤＬは、ＶＨＤＬの既存の特徴を使用して実装される。ＢＳＤＬはＶＨＤＬのサブセットとして定義されたのに対して、ＮＳＤＬは、ＶＨＤＬのスーパーセットを利用する。ＶＨＤＬは主なレジスタ転送レベル（ＲＴＬ）記述言語であるため、ＶＨＤＬは、ＶＨＤＬが記述する構成要素のテスト要件を表現するのに大変適している。ＶＨＤＬと互換性がある状態にとどまることによって、ＮＳＤＬは、最小限の変更を行った状態で既存のコンパイラによってサポートされることが可能である。さらに、ＶＨＤＬの使用は、ＮＳＤＬに遷移することが、ＶＨＤＬに慣れた人々にとって円滑な経験になることを確実にし、さらに、既存のソースおよびツールの変換および適合が容易になることを確実にする。したがって、ＶＨＤＬを利用しているＮＳＤＬは、既存のユーザコミュニティへの影響を最小限に抑え、それによって、既存のユーザコミュニティによるＮＳＤＬの適合を簡素化する。]
[0189] 対照的に、ＢＳＤＬは、ＢＳＤＬをＶＨＤＬと後方互換性および前方互換性の両方があるものにする努力の際にＶＨＤＬのサブセットとして開発された。サブセットは、何も加えられていないことを示す（すなわち、すべての情報は、次いで、通常と異なる形で解釈される、すでに既存のＶＨＤＬ規則内に組み込まれた構造的な構文規則によって運ばれる）。後方互換性は自動的であるものの、新しい構成物（ｃｏｎｔｒｕｃｔｓ）を定義する不可能性は進化を困難にする。この構造的な限界は、開発者に、多くの場合、直観に反する形で、２つの最も一般的な構成物（属性および文字列）を過剰使用させる。すなわち、ＢＳＤＬは、ＶＨＤＬのほんの一部の中で効果的に制約され、それによって、ＶＨＤＬが文脈的な意味を有するいかなる可能性も排除した。]
[0190] 本明細書で説明されるように、ＮＳＤＬは、システムオンチップテストにおいて多くの利点を提供する。同様に、ＮＳＤＬを実装するためにＶＨＤＬを使用することは、 システムオンチップテストにおいて多くの利点を提供する。]
[0191] システムオンチップの構成要素は、ＶＨＤＬエンティティ構成要素カプレット上でモデル形成されることが可能であり、それによって、システムオンチップの構成要素によってサポートされる個々の機能の記述を可能にする。したがって、それぞれの構成要素に対するアクセスは、階層を含み得る、その構成要素の内部スキャンパスを介して提供されることが可能である。さらに、構成要素は、テストシステムがその構成要素をテストするために使用することが可能なテスト手順の対応するセットが伴う可能性があり、この場合、手順の諸属性は、ＮＳＤＬ（例えば、長さ、依存など）を使用して指定され、一方、手順の本体は、ＶＨＤＬを使用して指定される。したがって、これは、システム設計者が、構成要素設計者が構成要素レベルの記述を処理するのと同じようにシステムレベルの記述を処理することを可能にする。]
[0192] システムオンチップのスキャンパスは、ＶＨＤＬ構成要素のようにインスタンスが作成され得る一連のエンティティとして構成されることが可能であり、したがって、パッケージまたはライブラリに容易に再グループ化されることが可能である。さらに、多くのより複雑な表示（例えば、所与のタイプの構成要素の複数のインスタンスの作成、構成要素依存など、ならびにそれらの様々な組合せ）が容易に処理される。さらに、ＮＳＤＬは、伝統的なＶＤＬ信号マッピングに関する改善であるようにシステムスキャンチェーンの構築を可能にする。システムオンチップをテストするために開発されたテスト手順は、システムスキャンパスまたは（複数の構成要素のグループ、または１つの構成要素のサブセットもしくはサブセットすら含み得るスライスと呼ばれる）システムスキャンパスの一部を参照することが可能である。]
[0193] 本明細書において、ＶＨＤＬを使用してＮＳＤＬが実装される実施形態に関して主に示され、かつ説明されるが、ＮＳＤＬは、（まだ開発されていないハードウェア記述言語を含み得る）その他のハードウェア記述言語を使用して実装されることが可能である。]
[0194] 本明細書で説明されるように、ＪＴＡＧベースのテストを改善すること、ならびにＪＴＡＧベースのテストにおいてクロスロードデバイスの使用を可能にすることに加えて、ＮＳＤＬ言語は、システムオンチップの構成要素に対する並列アクセスも可能にし、それによって、システムオンチップテストにおける改善（例えば、改良型のテストスケジューリング、改良型のテスト効率など、ならびにそれらの様々な組合せ）を可能にする。]
[0195] Ｐ１６８７などの一実施形態では、並列アクセスは、主に、データ伝送向けの帯域幅を最適化する一方式として意図されるものの、直列アクセスは、テストの制御を依然として保持する。ＮＳＤＬ言語は、これら補助リソースを記述して、これらをテストフロー内（例えば、それぞれ、図１２および図１７に関して示され、かつ説明される方法１２００内ならびに１７００内）に挿入することが可能である。] 図１２ 図１７
[0196] さらに、ＮＳＤＬは、例えば、システムオンチップをテストするための並列アクセスを提供するためにクロスロードデバイスを使用して、システムオンチップをテストするための並列アクセスを提供するためにファンアウト／ファンイン方式を使用してなど、ならびにそれらの様々な組合せを使用して、より複雑なテストアクセス機構（ＴＡＭ）を記述するために拡張されることも可能である。]
[0197] １つのシステムオンチップ（または、複数のシステムオンチップ）をテストするための並列アクセスの使用は、図２１〜図２８に関してより理解され得る。] 図２１ 図２２ 図２３Ａ 図２３Ｂ 図２４ 図２５ 図２６ 図２７ 図２８
[0198] 図２１は、並列アクセスインターフェースの一般的な接続方式のハイレベルブロック図を示す。詳細には、一般的な接続方式２１００は、並列アクセスインターフェース２１１０をシステムオンチップ２１２０に提供する。並列アクセスインターフェース２１１０は、内部並列ポート２１１１と、外部並列ポート２１１２と、内部インターフェース２１１３とを含む。システムオンチップ２１２０は、並列ポート２１２１を含む。] 図２１
[0199] 図２１に示されるように、システムオンチップ２１２０に対する並列アクセスは、内部並列ポート２１１１と並列ポート２１２１との間の接続によって提供される。並列ポート２１２１の利用は、（１）（インスタンスの作成時に行われ得る）システムオンチップ２１２０に対する並列ポート２１２１の接続および同期と、（２）（分かりやすくするために省略される）テストシステムによる並列ポート２１２１の処理とを必要とする。] 図２１
[0200] 図２１に示されるように、内部並列ポート２１１１および外部並列ポート２１１２は、ｎ個の入力接続（ｎ＞０）およびｍ個の出力接続（ｍ＞０）が、システムオンチップ２１２０の並列ポート２１２１に接続されることを可能にする。] 図２１
[0201] システムオンチップ２１２０に対する並列アクセスは、２つの様式で提供される。]
[0202] システムオンチップ２１２０に対する並列アクセスは、外部から提供される。テストシステムからシステムオンチップ２１２０への外部アクセスは、外部並列ポート２１１２を使用して提供される。外部並列ポート２１１２は、テストシステムと内部並列ポート２１１１との間のインターフェースとして機能する。外部並列ポート２１１２は、（それぞれ、内部並列ポート２１１１のｎ個の入力接続／ｍ個の出力接続に対応する）n個の入力接続およびｍ個の出力接続をサポートする。]
[0203] システムオンチップ２１２０に対する並列アクセスは、内部で提供される。テストシステムからシステムオンチップ２１２０への内部アクセスは、内部インターフェース２１１３を使用して提供される。一実施形態では、内部インターフェース２１１３は、システムスキャンパスに接続された、１つまたは複数の内部レジスタを使用して実装されることが可能である。この実施形態では、内部レジスタは、並列アクセスインターフェース２１１０の行動を制御するため、または並列アクセスインターフェース２１１０の状態を問い合わせるために使用されることが可能である。]
[0204] 上記のように、内部インターフェース２１１２または外部インターフェース２１１３を経由して、内部並列ポート２１１１にアクセスすることになるテストシステムは、分かりやすくするために省略される。]
[0205] 並列アクセスインターフェース２１１０は、ＮＳＤＬを使用して記述される。]
[0206] 並列アクセスインターフェース２１１０のＮＳＤＬ記述は、（１）（１つまたは複数の）内部ポートの記述（例えば、幅情報、データフローの方向、および類似情報）と、（２）並列アクセス機能／並列アクセス手順とを含む。]
[0207] 並列アクセスインターフェース２１１０のＮＳＤＬ記述は、オプションで、（３）外部並列ポート２１１２の記述（例えば、幅情報、データフローの方向、および類似情報）を含むことも可能である。]
[0208] 並列アクセスインターフェース２１１０のＮＳＤＬ記述は、オプションで、（４）内部インターフェース２１１３の記述（例えば、制御機能および／または状態機能に関して利用されるレジスタの記述）を含むことも可能である。]
[0209] 一実施形態では、テストシステムから複数の構成要素を有するシステムオンチップへの並列アクセスは、テストシステムと構成要素との間でテストビットストリームを結合するための直列テスト・アクセス・インターフェースの記述（この場合、直列テスト・アクセス・インターフェースは、システムオンチップの直列スキャンパスを使用して構成要素に対するアクセスを提供する）と、テストシステムと構成要素との間でテストビットストリームを結合するための並列テスト・アクセス・インターフェースの記述（この場合、並列テスト・アクセス・インターフェースは、システムオンチップの直列スキャンパスを使用せずに、すなわち、アクセスが直列スキャンパスの１つまたは複数の値によって制御されることが可能でも、直列スキャンパスを経由して直接的にではなく構成要素に対するアクセスを提供する）とを使用して記述されることが可能である。直列テスト・アクセス・インターフェースの記述および並列テスト・アクセス・インターフェースの記述は、テストにおいて使用するために格納されることが可能である。]
[0210] 一実施形態では、テストシステムからシステムオンチップへの並列アクセスは、テストシステムをシステムオンチップのコアモジュールに結合して、並列インターフェースモジュールの記述を格納するように適合された並列インターフェースモジュールの記述を使用して記述されることが可能であり、この場合、並列インターフェースは、システムオンチップのスキャンパスを使用して、コアモジュールにアクセスするように適合された、少なくとも１つの直列レジスタと、システムオンチップのスキャンパスを使用せずに、コアモジュールにアクセスするように適合された、少なくとも１つの並列レジスタとを含む。この記述は、テストにおいて使用するために格納されることが可能である。]
[0211] 一実施形態では、テストシステムからシステムオンチップへの並列アクセスは、テストシステムと構成要素との間でテストビットストリームを結合するように適合された直列テストアクセスポートの記述と、テストシステムと構成要素との間でテストビットストリームを結合するように適合された並列テストアクセスポートの記述と、直列テストアクセスポートおよび並列テストアクセスポートをシステムオンチップの構成要素の少なくとも一部に結合するように適合されたインターフェースポートの記述とを使用して記述されることが可能である。これらの記述は、システムオンチップをテストする際に使用するために格納されることが可能である。]
[0212] 本明細書で説明されるように、これらの記述は生成されて、格納される。したがって、これらの記述は、並列アクセスを使用して、様々なテスト（例えば、構成要素レベルのテスト、システムレベルのテストなど、ならびにそれらの様々な組合せ）を実行するために、（例えば、メモリから、別のシステムから、またはかかる記述の任意のその他のソースから）プロセッサによって受信されることが可能である。]
[0213] テストシステムからシステムオンチップへの並列アクセスは、その他の様式で記述されることが可能である。]
[0214] 並列インターフェース２１１０とシステムオンチップ２１２０との間の通信は、同期であってよく、または非同期であってもよい。]
[0215] 一実施形態では、並列インターフェース２１１０とシステムオンチップ２１２０との間の通信は、スキャンチェーンと同期する。１つのかかる実施形態では、１１４９．１「更新」信号の立上り時に並列ポート２１２１上の（１つまたは複数の）値がサンプリングされる。この実施形態では、テストシステムは、単に、（入力のために）ポートに（１つもしくは複数の）値を提示し、かつ／または（出力のために）ポートから（１つもしくは複数の）値を提示しなければならない。]
[0216] 一実施形態では、並列インターフェース２１１０とシステムオンチップ２１２０との間の通信は、同期バーストとして実装される。１つのかかる実施形態では、帯域幅を最適化するために、データのバーストが（入力上で）並列ポート２１２１に送られ、かつ／または（出力上で）並列ポート２１２１から読み取られる。１つのかかる実施形態では、バーストデータは、１１４９．１「更新」信号の立上り時に送られること／読み取られることが可能である。並列インターフェース２１１０は、テストシステムに対するデータバーストの特性を指定することになる。]
[0217] 一実施形態では、並列インターフェース２１１０とシステムオンチップ２１２０との間の通信は、非同期である。この実施形態では、並列ポート２１２１は、単独で動作し、接続を導くために、その独自のプロトコルを処理する。この実施形態では、テストシステムは、ハイレベルのアクセス（データを送ることおよびデータを受信すること）だけを可能にすることになる。トランザクションのプロトコルは、テストシステムの並列インターフェースドライバによって処理される。]
[0218] 一実施形態では、システムオンチップ１２２０は、並列インターフェース２１１０との通信の複数のかかるモードをサポートすることが可能である。かかる実施形態では、異なる通信モードの間で切り替えるために、機能のセットが使用され得る。例えば、機能のセットは以下を含み得る。すなわち、並列ポートを動作不能にする「ｄｉｓａｂｌｅ＿ｐｏｒｔ」、スキャンチェーン同期アクセスモードにトグルする「ｓｅｔ＿ｓｃａｎ＿ｓｙｎｃｈｒｏ」、バーストアクセスモードにトグルする「ｓｅｔ＿ｂｕｒｓｔ」、および非同期モードにトグルする「ｓｅｔ＿ａｓｙｎｃｈｒｏ」である。]
[0219] 図２２は、２つの例示的な並列アクセス接続方式を示すハイレベルブロック図を示す。] 図２２
[0220] 図２２に示されるように、例示的な並列アクセス接続方式は、図１のテスト環境の関連で説明される。これらの例示的な並列アクセス接続方式は、テストシステム１２０をシステムオンチップ１１０に接続するために利用される。詳細には、これらの例示的な並列アクセス接続方式は、テストシステム１２０をシステムオンチップ１１０のＪＴＡＧインターフェース２２０１および並列インターフェース２２０２に接続するために利用される。] 図１ 図２２
[0221] 図２２に示されるように、第１の並列アクセス接続方式２２１０は、ＪＴＡＧおよび並列アクセスに関して共通のケーブルを利用する。第１の並列アクセス接続方式２２１０は、システムオンチップ１１０のスキャンパスに対するＪＴＡＧインターフェース２２０１およびシステムオンチップ１１０の並列インターフェース２２０２の両方に関して、（ＪＴＡＧ並列インターフェースデバイスとして示される）単一の接続デバイス２１１１を利用する。] 図２２
[0222] 図２２に示されるように、第２の並列アクセス接続方式２２２０は、個別のＪＴＡＧ接続および並列接続を利用した。第２の並列アクセス接続方式２２１０は、システムオンチップ１１０のスキャンパスに対するＪＴＡＧインターフェース２２０１に関する（ＪＴＡＧインターフェースデバイス２１２１として示される）第１の接続デバイスと、システムオンチップ１１０の並列インターフェース２２０２に関する（並列インターフェースデバイス２１２２として示される）第２の接続デバイスとを利用する。] 図２２
[0223] 第２の並列アクセス接続方式２２１０に関して、テストシステム１２０が、ＪＴＡＧインターフェース２２０１および並列インターフェース２２０２の両方に関するテストソース／テストシンクである実施形態に関して示され、かつ説明されるが、その他の実施形態では、ＪＴＡＧインターフェース２２０１および並列インターフェース２２０２に関するテストソースおよび／またはテストシンクは異なってよい。例えば、ＪＴＡＧインターフェース２２０１または並列インターフェース２２０２は、テストシステム１２０以外のテストソースおよび／またはテストシングを使用することが可能である。]
[0224] 一般に、並列インターフェースの実装形態に応じて、並列インターフェースを経由してシステムオンチップのテストを実行しているテストシステムは、例えば、テストシステムとシステムオンチップの並列ポートとの間に配置された多くの構成物により、システムオンチップの並列ポートに直接アクセスできない場合がある。例は、図２３Ａおよび２３Ｂに示され、かつ説明される。] 図２３Ａ
[0225] 図２３Ａは、例示的なテスト環境のハイレベルブロック図を示す。この例示的なテスト環境２３００は、テストシステムが、システムオンチップに並列アクセスを提供する並列アクセスインターフェースを使用して、システムオンチップ上でテストを実行するのを可能にする。詳細には、テスト環境２３００は、インターフェースデバイス（ＩＤ）２３２０を経由して相互接続されたテストシステム（ＴＳ）２３１０とチップ／ボード（Ｃ／Ｂ）２３３０とを含む。] 図２３Ａ
[0226] ＴＳ２３１０は、並列アクセスインターフェースを経由してシステムオンチップのテストを実行するように適合されたテストシステムである。ＴＳ２３１０は、システムオンチップに対する並列アクセスを使用して、システムオンチップをテストする目的でシステムを実装するためにいかなるようにも実装され得る。一実施形態では、ＴＳ２３１０は、図１１に関して示され、かつ説明されたＴＳ１２０の（例えば、並列テスト機能をサポートするように適合された）適合バージョンとして実装されることが可能である。] 図１１
[0227] ＴＳ２３１０は、並列アクセスインターフェースを経由してシステムオンチップのテストを実行するために使用するように適合されたソフトウェアを含む。詳細には、ＴＳ２３１０は、テストツール２３１２および並列インターフェースドライバ２３１３を制御しているオペレーティングシステム２３１１を含む。ＴＳ２３１０は、（分かりやすくするために省略される）システムオンチップのテストを実行するように適合された、その他のハードウェアおよびソフトウェア（例えば、プロセッサ、メモリ、サポート回路など）を含む。]
[0228] 一実施形態では、テストツール２３１２は、テストツール１１２１と同じであってよい（または、少なくともテストツール２３１２に関して示され、かつ説明される機能は、テストツール１１２１の一部として実装されることが可能である。]
[0229] Ｃ／Ｂ２３３０は、システムオンチップ２３３１と並列インターフェース２３３２とを含む。システムオンチップ２３３１は、本明細書で説明されるいずれかのシステムオンチップであってよい。並列インターフェース２３３２は、図２１および２２に関して示され、かつ説明されたような並列インターフェースである。並列インターフェース２３３２とシステムオンチップ２３３１との間の相互作用は、図２１に関してよりよく理解され得る。図２３Ａに示されるように、システムオンチップ２３３１および並列インターフェース２３３２はそれぞれ、ＮＳＤＬを使用して記述される。] 図２１ 図２３Ａ
[0230] ＩＤ２３２０は、ＴＳ２３１０とＣ／Ｂ２３３０との間のインターフェースとして機能する。ＴＳ２３１０とＩＤ２３２０との間のインターフェースは、ＴＳ２３１０によってサポートされる任意のタイプのインターフェース（例えば、ＵＳＢケーブルまたはＴＳ２３１０によってサポートされ得る任意のその他のタイプのインターフェース）を使用して実装されることが可能である。ＩＤ２３２０とＣ／Ｂ２３３０との間のインターフェースは、Ｃ／Ｂ２３３０によってサポートされる任意のタイプのインターフェースとして実装されることが可能である。一実施形態では、ＩＤ２３２０は、データ信号および制御信号が、独立してＴＳ２３１０からＣ／Ｂ２３３０に適用されることが可能なように、Ｃ／Ｂ２３３０に対して個別のデータインターフェースおよび制御インターフェースをサポートする。]
[0231] 本明細書で説明されるように、テストツール２３１２は、並列インターフェース２３３２（および、したがって、システムオンチップ２３３１）とのデータ交換を処理し、並列インターフェースドライバ２３１３は、並列インターフェース２３３２（および、したがって、システムオンチップ２３３１）とのプロトコル交換を処理する。すなわち、並列インターフェースドライバ２３１３は、テストツール２３１２が並列インターフェース２３３２とのプロトコル交換を管理しなければならないことを防ぐ。図２３Ａに示されるように、ＴＳ２３１０とＣ／Ｂ２３３０との間のデータ交換およびプロトコル交換は、ＩＤ２３２０によってサポートされる。] 図２３Ａ
[0232] 一実施形態では、並列インターフェースドライバ２３１３は、オペレーティングシステム２３１１によってサポートされた機能を使用して（例えば、バッファ、信号灯、メールボックスなど、ならびにそれらの様々な組合せを使用して）並列インターフェース２３３２とのプロトコル交換を処理する。この実施形態では、テストツール２３１２は、システムオンチップのＪＴＡＧポートを直接制御せず、むしろ、テストツール２３１２は、（例えば、ドライバによって宣言され、テストツール２３１２によってインポートされた機能を使用して）テストツール２３１２に様々な機能を提供するドライバと相互作用する。]
[0233] 図２３Ｂは、図２３Ａの例示的なテスト環境内のデータフローのハイレベルブロック図を示す。図２３Ｂに示されるように、データは（データフロー２３５１として示される）ＴＳ２３１０からＣ／Ｂ２３３０に、かつ（データフロー２３５２として示される）Ｃ／Ｂ２３３０からＴＳ２３１０に流れる。データフロー２３５１において、データは、テストツール２３１２から並列インターフェースドライバ２３１３に、そこからインターフェースデバイス２３２０に、そこから並列インターフェース２３３２に、そこからシステムオンチップ２３３１に流れる。データフロー２３５２において、データは、システムオンチップ２３３１からテストツール２３１２に逆経路に沿って流れる。本明細書で説明されるように、データフローは、テスト環境２３００の関連でだけ重要である。] 図２３Ａ 図２３Ｂ
[0234] システムオンチップ２３３１のＮＳＤＬベースの記述は、対応する並列インターフェースに（例えば、インスタンスの作成時に）接続された１つまたは複数の並列ポートと（並列トランザクションに関するデータが格納される）１つまたは複数の並列スライスと、並列ポート上でトランザクションを開始するように適合された１つまたは複数の並列トランザクション機能とを含む。（１つまたは複数の）並列スライスは、特定の名前付け（例えば、「ｐａｒａｌｌｅｌ＿ｘｘｘｘ」）を使用して識別されることが可能である。並列トランザクション機能は、特定の名前付け（例えば、「ｓｅｎｄ＿ｐａｒａｌｌｅｌ＿ｄａｔａ」および「ｇｅｔ＿ｐａｒａｌｌｅｌ＿ｄａｔａ」）を使用して識別されることが可能である。例えば、並列トランザクション機能のプロトタイプは以下を含み得る。]
[0235] function send_parallel_data (sending_slice : in string)
return boolean;
function get_parallel_data (receiving_slice : in string)
return Boolean;]
[0236] 本明細書で説明される例示的な並列トランザクション機能は、並列ポート上の活動を広告し、さらに、直列テストビットストリームを制御するために、直列テストビットストリームに対する修正を示す。「並列スライス」の実装は、テストシステム（例示的に、ＴＳ２３１０のテストツール２３１２）にシステムオンチップの並列ポートと（本明細書において、システムオンチップの「コア」と呼ばれる）システムオンチップの残りの部分との間のデータフローの詳細について知らせる。システムオンチップの並列ポートとシステムオンチップのコアとの間の接続は、多くの様式で実装されることが可能である（その例は、図２４〜２７に関して示され、かつ説明される）。] 図２４ 図２５ 図２６ 図２７
[0237] 図２４は、並列ポートとシステムオンチップのコアとの間の例示的な接続のハイレベルブロック図を示す。図２４に示されるように、例示的な接続は、完全に独立した（直列スキャンパスから独立した）並列ポートを利用する。詳細には、接続２４００は、ＴＡＰポート２４１０と、並列アクセスをシステムオンチップ２４３０に提供している外部並列ポート２４２０とを含む。システムオンチップ２４３０は、ＴＡＰポート２４１０を経由して、または外部並列ポート２４２０を経由してアクセスされ得るコア２４３９を含む。] 図２４
[0238] コア２４３９は、システムオンチップ２４３０の直列スキャンパス内の直列レジスタ２４３１を使用して、ＴＡＰポート２４１０を経由してアクセスされ得る。直列レジスタ２４３１は、第１のインターフェース２４３３を経由してコア２４３９に対するアクセスを制御する。コア２４３９は、システムオンチップ２４３０の直列スキャンパスの外部にある並列レジスタ２４３４を使用して、外部並列ポート２４２０を経由してアクセスされる。並列レジスタ２４３４は、第２のインターフェース２４３５を経由してコア２４３９に対するアクセスを制御する。]
[0239] 図２４に示されるように、並列レジスタ２４３４を経由したコア２４３９に対するアクセスは、直列レジスタ２４３１から完全に独立している。したがって、すべての制御信号は、システムオンチップ２４３０の直列スキャンパスからの介入のいかなる必要も伴わずに、並列論理によって処理される。機能「ｇｅｔ＿ｐａｒａｌｌｅｌ＿ｄａｔａ」は、並列スライス（例示的に、「ｐａｒａｌｌｅｌ＿ｒｅｇ」）の名前を引数として単に解釈し、ビットストリームに対する修正は求められないため、機能の本体は空である。] 図２４
[0240] 図２５は、並列ポートとシステムオンチップのコアとの間の例示的な接続のハイレベルブロック図を示す。図２５に示されるように、例示的な接続は、直列制御を伴う独立した並列ポートを利用する。詳細には、接続２５００は、ＴＡＰポート２５１０と、並列アクセスをシステムオンチップ２５３０に提供している外部並列ポート２５２０とを含む。システムオンチップ２５３０は、ＴＡＰポート２５１０を経由して、または外部並列ポート２５２０を経由してアクセスされ得るコア２５３９を含む。] 図２５
[0241] コア２５３９は、システムオンチップ２５３０の直列スキャンパス内の直列レジスタ２５３１を使用して、ＴＡＰポート２５１０を経由してアクセスされる。直列レジスタ２５３１は、第１のインターフェース２５３３を経由してコア２５３９に対するアクセスを制御する。コア２５３９は、システムオンチップ２５３０の直列スキャンパスの外部にある並列レジスタ２５３４を使用して、外部並列ポート２５２０を経由してアクセスされる。並列レジスタ２５３４は、第２のインターフェース２５３５を経由して、コア２５３９に対するアクセスを制御する。]
[0242] 図２５に示されるように、並列レジスタ２５３４および関連する第２のインターフェース２５３５を経由したコア２５３９に対するアクセスは、システムオンチップ２５３０の直列スキャンパス内の追加のイネーブルレジスタ２５３２を使用して制御される。イネーブルレジスタ２５３２は、イネーブルレジスタ２５３２からコア２５３９への制御インターフェース２５３７を使用して、並列レジスタ２５３４を経由してコア２５３９に対するアクセスを制御する。したがって、システムオンチップ２５３０の直列スキャンパスは、ＴＤＩ→イネーブルレジスタ２５３２→直列レジスタ２５３１→ＴＤＯを含む。] 図２５
[0243] したがって、図２５に示されるように、並列レジスタ２５３４を経由したコア２５３９に対するアクセスは、システムオンチップ２５３０の直列スキャンパスから直列的に制御される。この実施形態では、機能「ｇｅｔ＿ｐａｒａｌｌｅｌ＿ｄａｔａ」は、並列スライス（例示的に、「ｐａｒａｌｌｅｌ＿ｒｅｇ」）の名前を引数として解釈し、さらに、ビットストリームに対する修正が求められるため、機能の本体は、イネーブルレジスタ２５３２の値を所望される値に設定するための命令を含むことになる。] 図２５
[0244] 図２６は、並列ポートとシステムオンチップのコアとの間の例示的な接続のハイレベルブロック図を示す。図２６に示されるように、例示的な接続は、直列データおよび並列データに関して、コアに対して共有アクセスポートを利用する。詳細には、接続２６００は、ＴＡＰポート２６１０と、並列アクセスをシステムオンチップ２６３０に提供している外部並列ポート２６２０とを含む。システムオンチップ２６３０は、ＴＡＰポート２６１０を経由して、または外部並列ポート２６２０を経由してアクセスされ得るコア２６３９を含む。] 図２６
[0245] コア２６３９は、システムオンチップ２６３０の直列スキャンパス内の直列レジスタ２６３１を使用して、ＴＡＰポート２６１０を経由してアクセスされる。直列レジスタ２６３１は、第１のインターフェース２６３３を経由してコア２６３９に対するアクセスを制御する。コア２６３９は、システムオンチップ２６３０の直列スキャンパスの外部にある並列レジスタ２６３４を使用して、外部並列ポート２６２０を経由してアクセスされる。並列レジスタ２６３４は、第２のインターフェース２６３５を経由して、コア２６３９に対するアクセスを制御する。]
[0246] 図２６に示されるように、直列レジスタ２６３１および並列レジスタ２６３４を経由したコア２６３９に対するアクセスは、共有アクセスポート２６３６を使用して制御される。共有アクセス部分２６３６は、直列レジスタ２６３１からの第１のインターフェース２６３３を第１の入力として解釈して、並列レジスタ２６３４からの第２のインターフェース２６３５を第２の入力として解釈する。共有アクセスポート２６３６は、入力のうちの１つを選択して、共有アクセスインターフェース２６３８を経由して入力のうちの選択された１つをコア２６３９に提供する。] 図２６
[0247] 図２６に示されるように、共有アクセスポート２６３６によって入力のうちの１つを選択することは、システムオンチップ２６３０の直列スキャンパス内で追加のイネーブルレジスタ２６３２を使用して制御される。イネーブルレジスタ２６３２は、イネーブルレジスタ２６３２から共有アクセスポート２６３６への制御インターフェース２６３７を使用して、共有アクセスポート２６３６および共有アクセスインターフェース２６３８を経由して、コア２５３９に対するアクセスを制御する。したがって、システムオンチップ２６３０の直列スキャンパスは、ＴＤＩ→ 直列レジスタ２６３１→イネーブルレジスタ２６３２→ＴＤＯを含む。] 図２６

权利要求:

請求項1
複数の相互接続によって相互接続された複数の構成要素を有するシステムオンチップをテストする方法であって、前記システムオンチップのそれぞれの構成要素のアルゴリズム記述を受信するステップと、前記システムオンチップの前記構成要素同士の間の複数の相互接続のアルゴリズム記述を受信するステップと、前記構成要素の前記アルゴリズム記述および前記相互接続の前記アルゴリズム記述を含む、前記システムオンチップのアルゴリズム記述を受信するステップと前記システムオンチップの前記アルゴリズム記述を格納するステップとを含む方法。
請求項2
前記システムオンチップのそれぞれの構成要素に関して、前記構成要素の前記アルゴリズム記述が、前記構成要素に関する少なくとも１つのレジスタ値への、前記構成要素によってサポートされた、少なくとも１つの機能のそれぞれのマッピングを記述する、請求項１に記載の方法。
請求項3
前記システムオンチップのそれぞれの構成要素に関して、前記少なくとも１つの機能が、前記構成要素をテストする機能および前記構成要素に関する動作を実行する機能のうちの少なくとも１つを含む、請求項２に記載の方法。
請求項4
それぞれの構成要素に関して、前記構成要素の前記アルゴリズム記述が、前記構成要素の内部スキャンを記述する、請求項１に記載の方法。
請求項5
前記システムオンチップの前記アルゴリズム記述が、前記システムオンチップのトポロジの記述を含む、請求項１に記載の方法。
請求項6
前記システムオンチップの前記トポロジの前記記述が、前記システムオンチップのシステムスキャンパスの記述を含む、請求項５に記載の方法。
請求項7
前記システムスキャンパスの前記記述が、スキャンパス長情報およびスキャンパス階層情報を含む、請求項６に記載の方法。
請求項8
アルゴリズム記述が、テストツールによって理解されているように適合されたフォーマットで少なくとも１つの構成規則を含む、請求項１に記載の方法。
請求項9
システムオンチップの構成要素をテストする方法であって、前記構成要素が少なくとも１個のレジスタを含み、前記方法が、前記構成要素のアルゴリズム記述を受信するステップを含み、前記構成要素によってサポートされた少なくとも１つの機能のそれぞれに関して、前記アルゴリズム記述が、前記構成要素の前記少なくとも１個のレジスタに関する少なくとも１つのレジスタ値への前記機能のマッピングを定義し、そして、前記構成要素の前記アルゴリズム記述を格納するステップを含む方法。
請求項10
システムオンチップをテストする方法であって、前記システムオンチップのアルゴリズム記述を使用して、前記システムオンチップに関するテストビットストリームを決定するステップを含み、前記テストビットストリームが、入力ビットストリームと期待される出力ビットストリームとを含み、さらに、前記入力ビットストリームを前記システムオンチップの入力テストアクセスポートに適用するステップと、前記システムオンチップの出力テストアクセスポートから、実際の出力ビットストリームを補足するステップと、前記実際の出力ビットストリームと前記期待される出力ビットストリームとを使用して、テスト結果を決定するステップとを含む方法。